NexION SP-ICP-MS 分析土壤中的二氧化铈纳米颗粒 Application Note (014310_CHN_01)

为了通过 SP-ICP-MS 获得可靠的颗粒分析结果，估算 CeO2 纳米颗粒的颗粒计数浓度检测限非常重要。因此， 为了确定 CeO2 纳米颗粒的方法检出限（MDL），对由一 系列 0.5 mg/L 的 CeO2 纳米颗粒用 0.025 mM 焦磷酸钠 溶液稀释得到的标准品中各种颗粒的浓度（范围在 500 至 256000 NPs/mL）进行了分析。如图 1 所示，测得的 颗粒浓度表明颗粒浓度范围在 0.0078 μg/ L 至 1 μg/L 之 间呈线性趋势。但当颗粒浓度进一步降低至小于 0.0078  μg/L 时，数据偏离了校准曲线。这表明目前确立的 SP-ICP-MS 方法能够精确检测蕞低 1700 NPs /mL 的 CeO2 纳米颗粒，其灵敏度极高。颗粒数浓度检测限取决 于分析时间：可以通过更长的信号采集时间和 / 或更高 的输运效率实现更低的颗粒数浓度检测限。