光学薄膜测厚仪的原理以及与其它方法比较

北京燕京电子有限公司成立于1988年，注册资金2124万元公司位于北京城东北部酒仙桥的中关村电子城科技园区内，建筑面积2000多平方米，地理位置优越，交通便利自成立22年以来，燕京电子一贯秉承以科技为先导，以服务为根本的宗旨，为科研院所和生产企业提供先进的仪器设备及解决方案，以其良好的企业形象和品牌价值，发展成了业内的仪器设备服务商之一燕京电子一直以科技先行者的姿态，将国际先进的仪器技术和解决方案引入国内，并 SpectraThick series的特点是非接触, 非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows操作系统等ST series是使用可视光测量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金属薄膜厚度的仪器 美国AST SE200BM/300BM系列 椭偏薄膜分析仪 美国AST椭偏仪 SE200BA/500BA系列 椭偏仪 SE200BA 美国AST光谱反射薄膜分析仪SR300 扫描近场光学显微镜 原子力显微镜 ST4000光学薄膜测厚仪 美国AST MSP300 显微分光光度计 美国AST MSP500 显微分光光度计 扫描隧道显微镜 光学薄膜测厚仪 ST4080-OSP 光谱反射薄膜测厚仪SR100 光谱反射薄膜测厚仪 SR500 美国AST 椭偏薄膜分析仪 SE200-MSP ST2000光学薄膜测厚仪