无纺布口罩的质量控制

扫描电镜（SEM）是一种分析无纺布纤维的理想成像技术。众所周知，使用 SEM 时，无纺布等非导电材料会因样品表面电荷积累而难以成像，这些电荷可以通过 SEM 腔室内的低真空技术来消除。因此，无纺布可以直接放入扫描电镜中成像，无需任何样品制备。

飞纳台式扫描电镜高分辨率专业版 Phenom Pro，可以生成无纺布材料的纳米分辨率图像。Phenom Pro的真正强大之处在于集成的全景图像拼接和纤维统计分析测量软件。该软件可以帮助新手用户在几分钟内自动测量数千根纤维的直径分布。