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  • 稀土检测专栏丨钕铁硼样品稀土杂质元素 ICP-MS 方案

    上期,安捷伦特别介绍了钕铁硼合金中 5800 ICP-OES 测定稀土杂质元素的方案。

    应用行业: 仪器仪表

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上期,安捷伦特别介绍了钕铁硼合金中 5800 ICP-OES 测定稀土杂质元素的方案,采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)分析稀土元素虽具有更低的检测限(~ng/L),但是部分稀土元素存在氧化物/氢氧化物质谱重叠干扰问题,比如,在钕铁硼样品中 143Nd16O 干扰 159Tb,146Nd16O1H 干扰 163Dy,148Nd16O1H 干扰 165Ho,150Nd16O1H 干扰 167Er。由于 ICP-MS 常规分析很难将钕的氧化物/氢氧化物去除干净,以致会影响钕铁硼样品中稀土杂质的准确定量。

而由于稀土元素第二电离能在 10ev~13ev 之间,可以在氩等离子体中发生二次电离,形成双电荷(z=2),并在 m/2 处产生质谱信号,因此,可以在分析 159Tb++163Dy++165Ho++167Er++ 过程中避开钕的氧化物/氢氧化物的干扰。安捷伦 ICP-MS 具有半质量数分析功能,基于该性能,可以在 m/z=79.5、81.5、82.5、83.5 处分析 Tb、Dy、Ho、Er 元素的含量。


图 1 半质量数质谱图

仪器主要参数条件

表 1 安捷伦 ICP-MS 主要参数条件


参数
射频功率 (W)1600
采样深度 (mm)6
氦气流速 (mL/min)5.5
八极杆偏置电压(V)-18
动能歧视电压 (V)5


干扰水平试验

当使用优化好的仪器方法条件进行干扰实验,分析测试 100µg/mL 的 Nd 单标在 He 气模式下“159Tb,165Ho,167Er,163Dy”和“79.5Tb,81.5Dy,82.5Ho,83.5Er”这两组的测试结果,并观察干扰水平。由表 2 数据结果可知:双电荷测量结果下,氢氧化物的干扰(Dy、Ho、Er)可以降低约 10 倍,氧化物干扰(Tb)可以降低超过 50 倍,Nd 对 Tb、Dy、Ho、Er 四个元素的干扰比例之和小于 0.004%,可以满足钕铁硼中稀土杂质元素的分析要求。

表 2 不同模式下干扰水平比较(单位 µg/L)

_79.5Tb81.5Dy82.5Ho83.5Er
Nd(100µg/mL)0.7362.0880.2040.809
_
_159Tb163Dy165Ho167Er
Nd(100µg/mL)44.98523.1631.8978.338


样品分析结果及精密度

通过逐级稀释 10μg/mL 的稀土元素标准储备液,配置成浓度分别为 0μg/L、0.2μg/L、1μg/L、2μg/L、10μg/L、200μg/L 的标准品溶液,绘制校正曲线,测试空白溶液 12 次,以测量浓度结果(µg/L)的三倍标准偏差计算仪器检出限,仪器检出限乘以样品前处理稀释倍数(DF=5000)计算方法检出限,所有稀土元素方法检出限小于 0.035μg/g;同时,按照样品处理方式平行处理七份钕铁硼测量溶液,绘制校正曲线之后对溶液进行分析,计算样品结果以及平行样品测量的精密度,数据显示,所有元素测量精密度<10%。


表 3 检出限及精密度

_仪器检出限方法检出限含量精密度
_µg/Lµg/gµg/g%
74.5Sm0.0040.0213.365.56
77.5Gd0.0040.02221.822.96
79.5Tb0.0020.0102.562.37
81.5Dy0.0070.035110.721.31
82.5Ho0.0030.0131.303.42
83.5Er0.0020.0081.826.51
89Y0.0010.0042.121.57
139La0.0010.00419.631.63
140Ce0.0010.007186.541.32
153Eu0.0010.004NANA
169Tm0.00050.0020.067.27
172Yb0.0010.0040.353.33
175Lu0.0010.0041.642.18


准确度测试

绘制校正曲线之后对溶液进行分析,在其中一份样品中加标 1μg/L 被测元素,测量加标浓度后计算加标回收率,由结果可知,所有元素的加标回收率在 80~100%。


_样品溶液溶液加标 1µg/L加标回收率
_µg/Lµg/L%
74.5Sm0.661.5488.2
77.5Gd4.335.1986.9
79.5Tb0.481.3284.0
81.5Dy21.7722.7093.1
82.5Ho0.221.0784.9
83.5Er0.361.1680.1
89Y0.431.3894.9
139La3.924.8794.9
140Ce36.9837.9697.5
153Eu0.0020.9796.5
169Tm0.011.0199.9
172Yb0.071.0698.5
175Lu0.331.3198.4


结语

采用安捷伦 ICP-MS 半质量数测量模式,能有效降低钕铁硼样品中主量元素的氧化物和氢氧化物干扰,实现在 ICP-MS 氦气下准确测定钕铁硼中稀土元素杂质,且分析方法检出限所有元素小于 0.035μg/g,测量精度 RSD%<10%,加标回收率 80~120%。该方法准确可靠,兼具检出限低优势,有效适用于钕铁硼样品中稀土杂质元素的分析检测。

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标签:安捷伦

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