- 2026-01-08 15:30:34剪切干涉仪
- 剪切干涉仪是一种利用光波干涉原理测量光学元件表面微小形变的精密仪器。它通过将一束光波分为两束，使它们经过不同路径后重新叠加，形成干涉图样。通过观察干涉图样的变化，可以精确测量出光学元件表面的微小起伏或形变。剪切干涉仪具有高灵敏度、非接触测量和全场测量等优点，广泛应用于光学加工、检测、科研及工业测量等领域，为光学元件的质量控制和精密制造提供了重要手段。
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