Thorlabs 剪切干涉仪 分出< 10%光束

剪切干涉仪

• 提供5种型号，光束直径范围从1到50 mm

• 定性地确定光的准直性

• 磁铁球将板固定在底座上

• 适用的光束直径刻在板上

根据所用剪切板的不同，剪切干涉仪可用于直径小到1 mm、大到50 mm的入射光。剪切干涉仪产生的干涉条纹对光束发散很敏感，因此可以用来定性地确定光是否准直。如右图所示，剪切板有三个钢球，以磁性吸附的方式固定在板的底部。当采用不同直径的光束时，这种磁性固位机制易于更换不同的平板。兼容的平板和底座型号请查看规格标签。

此外，底板的背面钻有通孔，因此可以使得透射光通过楔形光学平板继续毫无阻碍地传播。除了SI500，所有型号的通孔均为SM1螺纹(1.035"-40)。SI500的通孔为Ø2.95英寸(Ø75 mm)滑孔。底板、散射屏和剪切板包装在一个手提箱内。

请注意由于SI100、SI254和SI500剪切板的厚度原因，剪切板的后表面会超出安装板(如右图所示)。因此，当插入或者移除这些板的时候要格外小心，尤其是安装了SICP或者SICPSM1笼式转接板的情况下。

楔形光学平板通过三个磁块夹持住。

规格

1. 为了确保能产生干涉，请检查所用的光源的有xiao相干长度大于光程长(ΔOPL)的近似变化。当使用光源的相干长度达到ΔOPL的几倍，干涉条纹的对比度会下降。一旦相干长度接近ΔOPL，就是在对非相干光有xiao成像。假设平行反射表面被厚度分开，针对UVFS(n=1.457@632.8 nm)计算的ΔOPL列在上表中。

2. 由于光学元件的厚度，剪切仪的背面会超出安装板。因此，在插入或移除这些板的时候，尤其是安装了SICP和SICPSM1这些笼式转接件时，要格外小心。

1. 楔形板用UVFS制成

2. 带有不同楔形角的不同板可以提供不同大小的光束。这是优化特定光束直径的板之间距离，从而产生干涉条纹。

3. SIVS是设计用来观察由小直径光束产生的条纹。虽然它与SI254兼容，但没bi要和SI254一起使用，因为SI254就是用来观察大直径光束。

上图是UVFS在光垂直入射时的透过率曲线。其中UVFS样品未镀膜，厚度为1 mm，数据包含表面反射。

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