Thorlabs光束轮廓仪 扫描狭缝式 森泉光电

• 三种双扫描狭缝光束轮廓仪型号

• Item # BP209-VIS(/M)：200 nm - 1100 nm

• Item # BP209IR1(/M)：500 nm - 1700 nm

• Item # BP209-IR2(/M)：900 nm - 2700 nm

• 高精度分析近高斯光束质量

• 重建2D和伪3D空间功率分布

• 单个独立测量头

• 测量连续光束或≥10 Hz的脉冲光束

• 扫描速率从2到20 Hz

• 用户可校准的功率读数(请看用户手册了解校准步骤)

• 动态范围78 dB

• 低噪声放大器

• USB 2.0高速接口连接PC

Thorlabs的双扫描狭缝式光束轮廓仪非常适合分析近似高斯光束的截面轮廓。可以在2 Hz到20 Hz之间的扫描速率(可以使用软件设定)下，测量光束截面中用户指定的X轴和Y轴的强度轮廓。20 Hz的高扫描速率能够实时对准光学系统。这些光束轮廓仪主要用于连续激光束，也可以采用平均法测量≥10 Hz的脉冲光束(更多信息，请看工作标签)。测量结果可用于评估光束质量、检查重建的光束轮廓以及监测长期稳定性。

所有三种双扫描狭缝式光束轮廓仪型号都有Ø9 mm输入孔径，通过连续扫描两个宽度相同且互相垂直的狭缝测量输入激光束。使用软件切换5 µm或25 µm宽的狭缝对、选择扫描狭缝或刀口工作模式、设置其它扫描选项等。有关不同狭缝宽度和工作模式的功能和用法信息，请看工作标签。

这些扫描狭缝光束轮廓仪配备低噪声电子元件，具有78 dB高动态范围，能够测量直径在2.5 µm和9 mm之间的光束。光束直径参考ISO 11146标准测量，可按照多种行业标准的限幅水平显示，比如1/e2(13.5%)、50%或用户设定的任意限幅水平值。当所测光束不具有近高斯光束形状，或者需要对脉冲光束进行单次测量，我们推荐使用我们的CMOS相机式光束轮廓仪。

1. 公英制型号的区别只有底板上的螺纹孔不同。

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激光控制：激光电流源、激光器温控器、激光器控制、伺服设备与系统等等

探测器：光电探测器、单光子计数器、单光子探测器、CCD、光谱分析系统等等

定位与加工：纳米定位系统、微纳运动系统、多维位移台、旋转台、微型操作器等等

光源：半导体激光器、固体激光器、单频激光器、单纵模激光器、窄线宽激光器、光通讯波段激光器、CO2激光器、中红外激光器、染料激光器、飞秒超快激光器等等

光机械件：用于光路系统搭建的 gao 品 zhi 无应力光机械件，如光学调整架、镜架、支撑杆、固定底座等等

光学平台：主动隔振平台、气浮隔振台、实验桌、刚性工作台、面包板、隔振、隔磁、隔声综合解决方案等等

光学y件：各类晶体、光纤、偏转镜、反射镜、tou射镜、半透半反镜、滤光片、衰减片、玻片等等

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