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狭缝扫描光束分析仪NanoScan 2

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详细介绍
扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术,通过狭缝/ 小孔取样激光光束的一部分,将取样部分通过单点光电探测器测量强度,再通过扫描狭缝/ 小孔的位置,复原整个光斑的分布。
扫描式光束分析仪的优点:
• 取样尺度可以到微米量级,远小于CCD 像素,可获得较高的空间分辨率而无需放大;
• 采用单点探测器,适应紫外~ 中远红外宽范围波段;
• 单点探测器具备很高的动态范围,一个探头可同时适应弱光和强光分析。
扫描式光束分析仪的缺点:
• 多次扫描重构光束分布,不适合输出不稳定的激光;
• 不适合非典型分布的激光,近场光斑有热斑、有条纹等的状况。
扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系;在很多应用,如小光斑测量(焦点测量)、红外高分辨率光束分析等方面,扫描式光束分析仪具备独特的优势。
NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪, 源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪,在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR可提供完备的光束分析解决方案。
特点和功能:
• 可测量连续激光以及大于1KHz 重频的脉冲激光
• 取样间隔可以调节小到5.7nm,使其能够极其精确地测量非常小的光斑,
• 可显示2D/3D 光斑形貌
• 扫描速度可调谐
• 16 位数字化信号采集,35dB 高动态范围,20Hz *刷新频率
• 支持用户进行二次开发,便于集成
• 探头可添加功率计选项
• 硅、锗和热释电探测器可选,测量范围可覆盖很宽的光谱范围和功率级别
• 不加衰减就可以测量较高功率或焦点处光斑
• 所有的NanoScan 的校准都可以朔源NIST 标准以确保*终的精度
• 符合国际标准ISO/DIN 11146 及ISO13694。(1989~1996 年,Photon 公司主持了ISO/DIN 委员会的工作,制订出了ISO/DIN11146 标准)
型号指标:

软件功能:
NanoScan 提供Standard 与Professional 两种功能版本:
产品优势
NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪, 源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪,在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR可提供完备的光束分析解决方案。
技术资料
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