美国Dataray Beam'R2 扫描狭缝光束质量分析仪

Beam'R2 扫描狭缝光束质量分析仪描述：

DataRay 的 Beam'R2 非常适合许多激光束轮廓分析应用。Beam'R2 具有标准的 2.5 μm 狭缝和更大的刀刃狭缝，能够测量直径小至 2 μm 的光束。Beam'R2 提供硅和 InGaAs 或扩展 InGaAs 选项，可以对 190 nm 至 2500 nm 的光束进行剖析。扫描狭缝仪器的分辨率比基于相机的系统高得多。

特点：

多种检测器选项，范围为 190 至 2500 nm

190 至 1150 nm，硅探测器

650 至 1800 nm，InGaAs 探测器

1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（扩展）探测器

符合 ISO 标准的光束直径测量

端口供电的 USB 2.0

自动增益功能

用于符合 ISO 11146 标准的 M² 测量的可选载物台附件

True2D™ 狭缝

分辨率达 0.1 μm

5 Hz 更新速率（可调 2 至 10 Hz）

剖面 CW/准连续波光束

光束直径 5 μm 至 4 mm，刀锋模式下为 2 μm

应用实例：

非常小的激光束轮廓

光学组件和仪器对准

OEM 集成

镜头焦距测试

实时诊断对焦和对准误差

将多个装配体实时设置为同一焦点

M² 测量，提供 M2DU 载物台

True2D™ 狭缝：

蓝宝石衬底上的 0.4 μm 厚金属多层薄膜

与气缝相比，具有多种优势

避免隧道效应

气缝通常比宽深，并且在高辐照度下会弯曲

规格：