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国Dataray BeamMap2 多平面狭缝扫描光束分析仪

品牌：美国DataRay
型号： BeamMap2
产地：美洲美国
供应商报价：面议

北京多晶电子科技有限公司更新时间：2025-04-30 12:31:18

销售范围售全国

入驻年限第10年

营业执照已审核

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产品特点

DataRay 的 BeamMap2 代表了一种完全不同的实时波束轮廓分析方法。它扩展了 Beam'R2 的测量功能，允许在光束行程的多个位置进行测量。

详细介绍

BeamMap2 多平面狭缝扫描光束分析仪描述：

DataRay 的 BeamMap2 代表了一种完全不同的实时波束轮廓分析方法。它扩展了 Beam'R2 的测量功能，允许在光束行程的多个位置进行测量。这种实时扫描狭缝系统在旋转圆盘上的多个 Z 平面上使用 XY 狭缝对，同时测量四个不同 Z 位置的四个光束轮廓。BeamMap2 的独特设计在实时测量焦点位置、M²、光束发散度和指向方面有利。

特点

多种检测器选项，范围为 190 至 2500 nm

190 至 1150 nm，硅探测器

650 至 1800 nm，InGaAs 探测器

1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（扩展）探测器

符合 ISO 标准的光束直径测量

端口供电的 USB 2.0

自动增益功能

用于符合 ISO 11146 标准的 M² 测量的可选载物台附件

True2D™ 狭缝

分辨率达 0.1 μm

5 Hz 更新速率（可调 2 至 10 Hz）

剖面 CW/准连续波光束

光束直径 5 μm 至 4 mm

XYZ 轮廓，加上 θ-Φ

对焦位置和直径

实时 M²、指向和发散测量

以 ±1 μm 的重复精度识别焦点（取决于光束）

应用实例

非常小的激光束轮廓

光学组件和仪器对准

OEM 集成

镜头焦距测试

实时诊断对焦和对准误差

将多个装配体实时设置为同一焦点

M² 测量，提供 M2DU 载物台

True2D™ 狭缝

蓝宝石衬底上的 0.4 μm 厚金属多层薄膜

与气缝相比，具有多种优势

避免隧道效应

气缝通常比宽深，并且在高辐照度下会弯曲

规格

波长	硅探测器：190 至 1150 nm InGaAs 探测器：650 至 1800 nm Si + InGaAs 探测器：190 至 1800 nm Si + InGaAs（扩展）探测器：190 至 2300 或 2500 nm
扫描光束直径	硅探测器：5 μm 至 4 mm InGaAs 探测器：10 μm 至 3 mm InGaAs（扩展）探测器：10 μm 至 2 mm
平面间距	100 微米：-100、0、+100、+400 微米 250 微米：-250、0、+250、+1000 微米 500 微米：-500、0、+500、+2000 微米 750 微米：-750、0、+750、+3000 微米
光束腰径测量	第二力矩（4s）直径符合 ISO 11146;拟合高斯 & TopHat 1/e² （13.5%）宽度用户可选择峰值百分比
光束腰部位置测量	± X、Y 和 Z 轴中的 20 μm — 联系 DataRay 获取建议
测量源	CW，准CW光束
分辨率精度	0.1 μm 或扫描范围的 0.05%± <2% ± = 0.5 μm
M² 尺寸	1 至 > 20，± 5%
发散/准直、指向	1 mrad best — 联系 DataRay 获取推荐
蕞大功率和辐照度	总功率 1 W & 0.5 mW/μm²
增益范围	1'000：1 切换;4'096：1 ADC范围
显示的图形	X-Y 位置和轮廓的缩放 x1 到 x16
更新速率	~5 Hz，可尘埃 2 至 10 Hz
通过/失败显示	屏幕上可选择的通过/失败颜色。QA和生产的理想选择。
平均	用户可选运行平均值（1 至 8 个样本）
统计学	蕞小值、蕞大值、平均值、较长时间的标准差对数数据
XY轮廓和质心	光束漂移显示和记录
要求	Windows 10 64 位

国Dataray BeamMap2 多平面狭缝扫描光束分析仪

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