动脉硬化诊断仪 - 产品信息 - 相关知识

2025-01-10 10:52:26动脉硬化诊断仪: 动脉硬化诊断仪是一种专业的医疗设备，用于评估血管的健康状况和检测动脉硬化程度。它采用先进的检测技术，如超声波、脉搏波传导速度等，能够无创、准确地测量血管壁的厚度、弹性和血流速度等参数。通过数据分析，动脉硬化诊断仪能够早期发现动脉硬化迹象，为医生提供诊断依据，帮助患者及时采取治疗措施。该仪器操作简便、安全可靠，广泛应用于心血管疾病的筛查和诊断。

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动脉硬化诊断仪问答

2023-08-04 11:22:00光纤微裂纹诊断仪（OLI）如何快速对硅光芯片耦合质量检测？: 硅光是以光子和电子为信息载体的硅基电子大规模集成技术，能够突破传统电子芯片的极限性能，是5G通信、大数据、人工智能、物联网等新型产业的基础支撑。光纤到硅基耦合是芯片设计十分重要的一环，耦合质量决定着集成硅光芯片上光信号和外部信号互联质量。耦合过程中最困难的地方在于两者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式约为几百纳米，而光纤中则为几个微米，几何尺寸上巨大差异造成模场的严重失配。准确测量耦合位置质量及硅光芯片内部链路情况，对硅光芯片设计和生产都变得十分有意义。光纤微裂纹诊断仪（OLI）对硅光芯片耦合质量和内部裂纹损伤检测，非常有优势，可精准探测到光链路中每个事件节点，具有灵敏度高、定位精准、稳定性高、简单易用等特点，是硅光芯片检测不二选择。OLI测试硅光芯片耦合连接处质量使用OLI测量硅光芯片耦合连接处质量，分别测试正常和异常样品，图1为硅光芯片耦合连接处实物图。图1硅光芯片耦合连接处实物图OLI测试结果如图2所示，图2（a）为耦合正常样品，图2（b）为耦合异常样品。从图中可以看出第一个峰值为光纤到硅基波导耦合处反射，第二个峰值为硅基波导到空气处反射，对比两幅图可以看出耦合正常的回损约为-61dB，耦合异常，耦合处回损较大，约为-42dB，可以通过耦合处回损值来判断耦合质量。（a）耦合正常样品（b）耦合异常样品图2 OLI测试耦合连接处结果OLI测试硅光芯片内部裂纹使用OLI测量硅光芯片内部情况，分别测试正常和内部有裂纹样品，图3为耦合硅光芯片实物图。图3.耦合硅光芯片实物图OLI测试结果如图4所示，图4（a）为正常样品，图中第一个峰值为光纤到波导耦合处反射，第二个峰值为连接处到硅光芯片反射，第三个峰为硅光芯片到空气反射；图4（b）为内部有裂纹样品，相较于正常样品再硅光芯片内部多出一个峰值，为内部裂纹表现出的反射。使用OLI能精准测试出硅光芯片内部裂纹反射和位置信息。（a）正常样品（b）内部有裂纹样品图4.OLI测试耦合硅光芯片结果因此，使用光纤微裂纹诊断仪（OLI）测试能快速评估出硅光芯片耦合质量，并精准定位硅光芯片内部裂纹位置及回损信息。OLI以亚毫米级别分辨率探测硅光芯片内部，可广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。

2022-03-01 14:33:45拥有OFDR技术国产机LGA50 高分辨光学链路诊断仪新上市！: 去年东隆科技就已推出国内自研产品，拥有OFDR技术的OCI 高分辨光学链路诊断仪，经过一年多的市场考验，成功的获得了众多客户的青睐和认可。随着与各领域工程师和研究人员的日常沟通了解到，由于实际应用场景的不同，测试指标和具体参数多样化的特性，而单一的产品不能有效满足需求。因此，东隆科技研发部经过多方面的调研和考察，陆续推出了拥有OFDR核心技术的众多产品线，它们无论从产品性能、各参数指标、还是价格均能满足不同客户的实际需求，并且在技术支持和售后服务方面，东隆科技还能做到7*24小时随时应答，48小时上门解决！第一时间为客户答疑解惑！近日，东隆科技推出的LGA50高分辨光学链路诊断仪，其原理是基于光频域反射（OFDR）技术，测量长度50m,单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。LGA50还可以轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。它广泛的应用于光器件、光模块测量，光纤长度精准测量，硅光芯片测量，和光谱、群延时测量。产品特点• 波长范围：1535~1620nm• 空间分辨率：10μm@50m• 测量长度：50m• 自校准，无需人为干预，稳定性好产品参数注明：不同模式下测量时间不同