2025-01-10 17:05:58Intervue 低相干干涉仪

Intervue低相干干涉仪是一种高精度光学测量仪器，主要用于测量光学元件的表面形貌、厚度变化及内部缺陷等。它采用低相干光技术，能够有效避免干涉条纹的混淆，提高测量精度。该仪器具有非接触、无损伤、测量速度快、分辨率高等优点，广泛应用于半导体、光学镜片、薄膜材料等领域。通过精确测量，可帮助科研人员优化产品设计，提升产品质量。仪器网提供Intervue低相干干涉仪的详细参数、实时报价及供应商信息，助力用户高效采购。

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