- 2025-01-10 10:49:50FIB-SEM系统
- FIB-SEM系统结合了聚焦离子束（FIB）扫描电子显微镜（SEM）技术，能够实现在纳米尺度上进行样品加工与成像分析。该系统利用聚焦离子束进行高精度刻蚀、沉积等操作，同时SEM模块提供高分辨率成像，便于实时监测样品变化。FIB-SEM系统广泛应用于材料科学、半导体产业、生物医学等领域，实现纳米级结构的三维重构与分析。
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