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赛默飞世尔 DUALBEAM FIB-SEM 显微镜 Aquilos 2 Cryo FIB

联系方式:电子显微镜18621035632

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赛默飞世尔 DUALBEAM FIB-SEM 显微镜 Aquilos 2 Cryo FIB 核心参数
电子枪: 钨灯丝
详细介绍

产品介绍:

Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo-FIB 是我们最 新一代的 cryo-DualBeam 系统。它专用于为高分辨率冷冻电子断层扫描或微晶 MicroED 制备电子透明的薄片。 

利用 Aquilos 2 Cryo-FIB,您可以凭借自动化工作流程步骤向前迈出革命性的一步,从特定程序化位置产生多个减薄的样品区域。经过改进的专用冷冻硬件有助于延长运行时间,且污染率极低。了解我们最 新的 cryo-FIB 平台如何确定细胞内部的结构。

生物分子在其细胞环境内的断层扫描需要用 cryo-FIB 进行高准确度的样品制备,这可以使用来自集成荧光显微镜检查的信息来实现。现在可用于 Aquilos 2 Cryo-FIB 的 Thermo Scientific iFLM 相关系统将光和电子显微术结合在一个系统中。这避免了额外的样品转移步骤,并使您能够为冷冻断层扫描创建一个更精简的冷冻相关解决方案。iFLM(集成荧光显微镜)相关系统将荧光靶标定位在腔室内,让您可以在一个系统内关联两种成像模式,从而确保样品位于正确的位置。

用 Aquilos 2 Cryo-FIB 制备的冷冻薄片(左)。扫描电镜图像与使用 iFLM 相关系统获得的荧光图像的叠加(右)。
配备 iFLM 相关系统的 Aquilos 2 Cryo-FIB。


优势

自动化

过夜运行系统,可以利用 Thermo Scientific AutoTEM 软件自动生产多个减薄的样品区域。


冷冻提取

利用我们的高精度冷冻提取解决方案 Thermo Scientific EasyLift 微操作机械手,能够靶向并提取您的目标结构。


3D 可视化

使用荷电衬度查看表面下的天然亚细胞结构,并使用 Thermo Scientific Auto Slice and View 软件鉴别冷冻透射电镜中的高分辨率断层扫描的特征。


延长运行时间

即使是过夜运行,您的样品也能保持在玻璃化温度。冷冻硬件和可全向旋转的冷冻载物台保护冷冻样品免受污染,并确保它们在实验期间保持玻璃化状态。


性能数据

电子光学系统 
加速电压范围:200 V – 30 kV
电子束电流范围:1.5 pA 至 400 nA
分辨率(使用冷冻载物台):在 30 kV 时为 1.6 nm,2 kV(室温下)时为 2.6 nm,2kV(在冷冻温度下)时为 6.0 nm*
分辨率(使用冷冻载物台):30 kV 时 7.0 nm
离子光学系统 
离子源寿命:1300 小时
电压:500 V 至 30 kV
电子束电流:1.5 pA – 65 nA,分 15 档
分辨率(使用冷冻载物台):30 kV 时 7.0 nm
冷冻载物台 
在低温下的旋转角度(共心工作距离):-15° 至 +55°
XY 范围:110 mm
Z 范围:65 mm
旋转:360°(无限)
冷却时间: <20 分钟
真空系统 
室温下的腔室真空度: <4e–4Pa
冷冻条件下的腔室真空度: <8e–5Pa


产品优势
具有延长运行时间和增强自动化的冷冻电镜样品制备工具。
技术资料
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