2025-03-28 15:20:59AFM-SEM联用

AFM-SEM联用技术结合了原子力显微镜（AFM）的高分辨率表面形貌成像能力和扫描电子显微镜（SEM）的高放大倍数成像及元素分析能力。AFM提供纳米级精度的表面形貌信息，而SEM则能展示样品的整体形貌和更广泛的元素分布。联用技术通过在同一样品台或样品室内切换或同时使用两种显微镜，实现互补优势，为材料科学研究、纳米技术等领域提供全面深入的样品分析。

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