- 2025-01-21 09:35:01FT230 XRF镀层分析仪
- FT230 XRF镀层分析仪采用X射线荧光技术，对材料表面镀层进行元素分析和厚度测量。具有高精度、快速分析、无损检测等特点。广泛应用于电镀、涂装、半导体等行业，实现镀层元素成分及厚度的准确测定。对质量控制、产品研发具有重要意义。
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