- 2025-01-10 10:50:00聚焦离子束双束扫描电镜 FIB
- 聚焦离子束双束扫描电镜（FIB）是一种高精度科学仪器，结合了聚焦离子束刻蚀与扫描电镜成像技术。它能够在纳米尺度上对样品进行精确加工和分析，实现高分辨率成像、三维结构重构及微纳加工等功能。FIB广泛应用于半导体材料研究、微电子器件制造、失效分析等领域，为科研及工业生产提供了强有力的技术支持。
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