「TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）」价格、参数、图片

为你推荐

产品特点：

TESCAN AMBER 是一款双束（FIB-SEM）聚焦扫描电镜系统系统，可以满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。

产品详情：

主要特点

创新的 BrightBeam™SEM 镜筒技术，实现真正的超高分辨（UHR）

*新的 BrightBeam™SEM 镜筒，电磁-静电复合物镜，配置专利的 70°极靴；
无磁场超高分辨成像，可以最大化的实现各种分析，包括对磁性样品的分析；
最新的多种探测器，包括透镜内轴向探测器（In-Beam Axial detector ）以及多控制器，可选择不同角度和不同能量来收集信号，更好的表面灵敏度和对比度，可以看得更细致，观察更深入；
新型场发射肖特基电子枪的最大束流可达到 400 nA，同时可实现电子束能量的快速改变；
新一代电路系统可同时支持多达 8 个实时信号通道
EquiPower™ 透镜技术可实现高效的散热并保证电子镜筒的稳定性；
电子束减速技术（BDT）进一步加强了低电压下的分辨率，并能同时探测 SE 和 BSE 信号（选配）；

创新的 Orage™ Ga FIB 镜筒可完成极具挑战性的纳米工程任务

创新的 Orage™ Ga FIB 镜筒保证绝佳的离子分辨率，30 kV 分辨率优于 2.5 nm ，最低电压可达 500 V；
优秀的低压样品制备能力可以快速制备无损超薄 TEM 样品；
Materials Science（材料科学应用）
FIB 束流最大可达100 nA，SmartMill 级别的高速切割进行截面处理和薄片取出使得加工效率提升了一倍；
快速的 FIB 纳米重构技术，轻松了解样品的超微观信息；
采用新型 OptiGIS 气体注入系统，可快速启动，沉积/蚀刻稳定性极好，一台仪器最多安装6个 OptiGIS；
无漏磁 SEM 成像和高速 FIB 相结合，可以快速不间断地完成铣削/连续成像，适用于 TEM / 原子探针样品制备或 FIB-SEM 断层扫描。

主要应用

Semiconductors & Microelectronics（半导体行业应用）

Materials Science（材料科学应用）

Life Sciences（生命科学应用）

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问厂商（厂商专业解答）

TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）应用在哪些领域？
有TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）说明书吗？
TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）数据能否导出？是否合规
有TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）详细技术参数吗？
介绍下TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）的工作原理
TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）售后响应速度

北京仪光科技有限公司为你提供TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）信息大全，包括TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）价格、型号、参数、图片等信息；如想了解更多产品相关详情，烦请致电详谈或在线留言！: 移动端：TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）

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