2025-01-21 09:31:20粒子对撞机
粒子对撞机用于加速和碰撞粒子,利用强电场或磁场加速粒子至极高速度,在精密探测器中相撞。用于研究基本粒子性质、探索物质结构和宇宙起源。广泛应用于物理学、化学、材料科学等领域,推动科技进步和产业发展。粒子对撞机对理解宇宙基本规律、发现新粒子和物理现象具有重要意义。

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2023-05-10 14:28:08纳米银粒子观察用什么显微镜?
纳米银粒子很小,才几十纳米,通常会用到电子显微镜。不过,此次,香港中文大学老师只需要观察纳米银颗粒分布,不需要清晰观察细节,同时后期需升级荧光观察,因此深圳区域工程师推荐了金相显微镜MJ43BD搭配2000万像素显微镜相机MDX10,现场演示了金相样品效果,获得用户认可。 金相显微镜MJ43,配备半复消色差的明暗场物镜和六孔转盘式落射模块,具备良好的成像质量和扩展能力,对于功能和扩展要求更高的老师很适合,标配支持明场和暗场观察,根据工业和材料学的不同应用,还能通过模块化组合,实现偏光、荧光、DIC等观察方式。金相显微镜MJ43可应用于半导体、FPD、电路板、金属材料等制造领域,适用于教学及研究方面您若对金相显微镜感兴趣或存在疑问,欢迎与我们联系,我们将竭诚为您服务!免责声明本站无法鉴别所上传图片、字体或文字内容的版权,如无意中侵犯了哪个权利人的知识产权,请来信或来电告之,本站将立即予以删除,谢谢。来源:https://www.mshot.com/article/1741.html
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2023-01-04 16:50:04【AM-AN-22025A】标准粒子在光散射研究中的应用
全文共1834字,阅读大约需要6分钟关键词:标准粒子;米氏散射光的散射(scattering of light)是指光通过不均匀介质时一部分光偏离原方向传播的现象。偏离原方向的光称为散射光。散射光频率不发生改变的有瑞利散射、米氏散射和大粒子散射;频率发生改变的有拉曼散射、布里渊散射和康普顿散射等。而标准粒子在光散射研究领域一般研究的是粒子的瑞利散射、米氏散射和大粒子散射,这三种散射划分是根据入射光λ与散射粒子的直径d之间的比例大小来确定的:①当散射粒子的直径d与入射光波长λ之比(d/λ)很小,即数量级显著小于0.1 时,则属于瑞利散射,散射光强与波长的关系符合瑞利散射定律,即散射光强与入射光的波长四次方成反比,与粒径的六次方成正比。②当散射粒子粒径与光波长可以比拟(d/λ的数量级为0.1~10)时,随着粒子直径的增大,散射光强与波长的依赖关系逐渐减弱,而且散射光强随波长的变化出现起伏,这种起伏的幅度也随着比值d/λ的增大而逐渐减少,这种散射称为米氏散射。③当粒子足够大时(d/λ>10),散射光强基本上与波长没有关系,这种粒子的散射称为大粒子散射,也可称之为衍射散射(菲涅尔衍射与夫琅禾费衍射)。瑞利散射可以说是米氏散射理论模型在小粒子端的近似形式,而衍射散射也可以说是米氏散射理论模型在大粒子端的近似形式,接下来我们将详细了解标准粒子应用于米氏散射理论对其光散射特性研究中,入射光波长、标粒直径以及入射光偏振角对散射光强的影响。1入射光波长对散射光强分布的影响图1.1 是相对折射率m=1.589/1.333,标准粒子直径d=2μm,入射光偏振角φ=45°时,由Mie散射理论及其他相关公式编程计算得到的散射光强与散射角之间的变化关系曲线。对于直径为2μm的聚苯乙烯微球在水中的散射情况,入射光偏振角为45°时,随着入射波长λ的增大,散射光强由主要集中在前向小角度内(波长λ为0.2um时散射光强主要集中在10°散射角内)逐渐变为集中在前向稍大角度内(波长λ为0.8um时散射光强主要集中在30°散射角内),若继续增大波长,散射光强集中的角度也将继续增大。从图1.1可以看出,波长较短时散射光强主要集中在前向小角度内,并且波长越短散射光强集中的角度越小。图1.1:当m=1.589/1.333,d=2μm,φ=45°时,对应于不同的波长,散射光强与散射角间的关系曲线。聚苯乙烯微球直径对散射光强分布的影响图2.1是用可见波段中的0.65μm波长的入射光,在偏振角为45°时,聚苯乙烯微球在水中的散射光强与散射角的变化关系曲线。由图可以看出,微粒直径越大散射光强越集中分布在前向小角度内,粒径大于2μm的粒子的散射光强主要集中在前向散射角约20°内,因此在此种条件下收集前向小角度的散射光强即可获得粒子的较好信息。图2.2是入射光波长为6μm,偏振角45°时,聚苯乙烯微球在空气中的散射光强与散射角的变化关系曲线。由图可知,所用波长较大时,较大粒子的散射光强不再集中在前向小角度内而是集中的角度逐渐变大,例如粒径大于8μm的粒子的散射光强主要集中在前向散射角约40°内。图2.1:当m=1.589/1.333, λ=0.65μm, φ=45°时,对应于不同的微粒直径,散射光强与散射角间的关系曲线。 图2.2:当m=1.589, λ=6μm, φ=45°时,对应于不同的粒径,散射光强与散射角间的变化曲线入射光偏振角对散射光强分布的影响图3.1是入射光波长为0.65μm,直径为0.2μm的聚苯乙烯微球在空气中的散射光强与散射角的变化关系曲线。由图可以看出,此种情况下入射光的偏振角不同散射光强与散射角间的关系曲线有很大变化,散射光强分布比较分散,说明此时散射光强的角分布与偏振光的偏振角有关。图3.1 当m=1.589, λ=0.65μm, φ=0.2μm时,对应于不同的偏振角,散射光强与散射角间的变化曲线。结论以上为应用米氏散射理论针对聚苯乙烯微球标准粒子的光散射性质进行的分析,得出以下结论:(1)波长较短时散射光强主要集中分布在前向小角度内,并且波长越短散射光强集中分布的角度越小。收集前向小角度的散射光可大致反映粒子散射信息。(2)进行聚苯乙烯微球标粒散射方面的研究时,应该选择可见光波段中波长较短的作为光源,这样既可以得到较好的粒子散射信息,又可以避免光源对人体造成伤害。(3)粒子直径较大时散射光强主要集中分布在前向小角度内,并且粒子直径越大散射光强越集中分布在小角度内;若所用波长较大时,较大粒子的散射光强不再集中分布在前向小角度内而是集中分布的角度逐渐变大。参考资料1.李建立.基于光散射的微粒检测.烟台大学理学院硕士论文,2009:22-25.
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2022-11-29 10:38:18【AM-AN-22022A】标准粒子的平均直径、扩展不确定度、标准偏差和变异系数
全文共1294字,阅读大约需要4分钟关键词:关键词:标准粒子;平均直径;不确定度;标准偏差;变异系数(CV)标准粒子尺寸标准的完整表征应包括平均直径、平均直径的不确定度、标准偏差和变异系数。1、平均直径和不确定度对于标准粒子的平均粒径,我们平时用于口头交流的整数值一般是指标粒的标称直径,而我们在实际检测校验时关注的认证平均直径才是标粒通过验证的真实的粒径。对于DLS动态光散射检测技术来说,平均直径又称为光强径、水合粒径(流体动力学直径)。平均直径表示如下:X是认证平均直径,Y是与平均直径测量相关的不确定度,K为包含因子,K=2表示置信度为95%。扩展不确定度是确定测量结果区间的量,合理赋予被测量之值分布的大部分可望含于此区间。实际上扩展不确定度(U)是由合成标准不确定度(Uc)的倍数(K)表示的测量不确定度。它是将合成标准不确定度扩展了k倍得到的,U=UcK。这里K值称作包含因子,一般为2,有时为3,取决于被测量的重要性,效益和风险。当K=2时,置信水平为95%,当k =3时,置信水平为99%。扩展不确定度是针对平均直径测量方法的,并且不传达任何关于尺寸分布的信息。根据NIST技术说明1297,测量结果只有在附有其不确定度的定量说明时才是完整的。这种不确定度的测量是重要的,因为它以确定的置信度确定了实际平均直径所处的数值范围。在不了解平均直径测量不确定度的情况下,将其应用或建立方法有潜在错误信息上的风险。为了进一步说明了解不确定度的含义,我们以标称直径为5.0 μm标粒为例,其认证平均直径为5.003 μm,扩展不确定度为±0.043 μm,K=2,这意味着标准粒子的平均直径在4.960 μm ~ 5.046 μm之间的概率为95%。2、标准偏差和变异系数扩展不确定度描述的是实际测量值,标准偏差和变异系数(CV)描述的是粒子粒径大小的分布。标准偏差是一种度量数据分布的分散程度的标准,用以衡量数据值偏离算术平均值的程度。标准偏差越小,这些值偏离平均值就越少。变异系数(CV)是标准偏差除以平均值以百分比表示的,换句话说,它是一个标准差占平均直径的百分比,其等同于相对标准偏差(RSD)。CV值的不同可以比较相同直径的颗粒不同批次的尺寸分布(均一性)。CV小于3%表明粒径的平均直径分布较窄,而CV大于3%则表明分布较广。图一如图一,展示了两种不同CV值且标称直径均为5 μm的粒径分布。蓝线对应的是具有CV大于5%的粒子正态高斯分布,而紫线具有非常狭窄的CV < 3%的分布。了解标粒的尺寸分布是非常有必要的,因为它可以使客户选择具有适合其仪器分辨率的标粒。3、结论标准粒子尺寸标准的完整描述包括平均直径、平均直径的扩展不确定度、标准偏差和变异系数。此外,一个特征良好的粒径标准对平均直径提供了较高的置信度,拥有这种置信度对仪器校准和验证非常重要。每一次测量,无论多么精确,都会有一定程度的不确定性。如您想了解更多有关于标粒信息(Applied Microspheres提供)的解读,可以咨询alpharmaca.com,我们将为您提供更好的校准与验证服务。
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2020-04-20 09:50:04MX4R 微分干涉显微镜 爆破粒子检测显微镜
MX4R金相显微镜采用灵活的系统组合、的成像性能、稳定的系统结构,MX4R系列专业应用于工业检测及金相分析领域,各操作机构根据人机工程学设计,大限度减轻使用疲劳。模块化的部件设计,可对系统功能进行自由组合。集成了明场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能,可根据实际应用,进行功能选择。全新采用半复消技术,集明场、斜照明、偏光等多种观察方式,任何观察模式下都能呈现清晰锐利的显微图像,可根据实际应用,进行功能选择,是工业检测的有效工具。 性能特点1)MX4R系列为全新型FPD检查显微镜,专为LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕、粒子爆破检查2)MX4R系列机型采用4寸、6寸平台设计,可适用于相应尺寸的晶圆或小尺寸样品的金相检查   3)MX4R系列,其微分干涉效果可与进口品牌相媲美 4)MX4R系列机型采用全新设计的长工作距物镜、半复消色差技术,采用长寿命LED光源5)多种高度功能化的附件,能满足各种检验需要,可用于明场、简易偏光、微分干涉观察■ 采用无限远色差校正光学系统■ 长工作距、明暗场两用平场消色差物镜,成像清晰、像面平坦■ 配备反射式柯拉照明系统,为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明■ 正像三通观察筒,30°倾斜,极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性■ 配备了4寸带离合器的机械平台230X215mm,行程105mmX105mm,可快速移动■ 良好的人机工程学设计,高刚性镜筒,“Y”型底座,调焦机构采用前置式操作控制■ 光源采用宽电压数字调光技术,具有光强调定与复位功能■ 可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件,拓展应用领域★ 可选配6英寸三层机械移动平台,平台面积445×240mm,行程158×158mm;玻璃载物台板,透反两用平台;★ 可选配标准微分干涉(DIC)装置、OLYMPUS微分干涉(DIC)装置
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2020-04-17 10:53:28MX4R 微分干涉显微镜 爆破粒子检测显微镜
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