电镀涂层测厚仪 - 产品信息 - 相关知识

2025-01-10 10:52:26电镀涂层测厚仪: 电镀涂层测厚仪是一种用于测量电镀涂层厚度的专用仪器。它利用磁性、涡流或超声波等原理，对电镀涂层进行非破坏性测量，广泛应用于电镀、涂装、汽车制造等行业。该仪器具有测量准确度高、操作简便、重复性好等特点，能够实时反映涂层厚度情况，为涂层质量控制和工艺改进提供可靠的数据支持。

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电镀涂层测厚仪问答

2021-11-10 10:57:53涂层测厚仪的产品应用及原理介绍: 涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。测厚仪应用由于超声波处理方便，并有良好的指向性，超声技术测量金属，非金属材料的厚度，既快又准确，无污染，尤其是在只许可一个侧面可按触的场合，更能显示其优越性，广泛用于各种板材、管材壁厚、锅炉容器壁厚及其局部腐蚀、锈蚀的情况，因此对冶金、造船、机械、化工、电力、原子能等各工业部门的产品检验，对设备安全运行及现代化管理起着主要的作用。超声清洗与超声测厚仪仅是超声技术应用的一部分，还有很多领域都可以应用到超声技术。比如超声波雾化、超声波焊接、超声波钻孔、超声波研磨、超声波抛光、超声马达等等。超声波技术将在各行各业得到越来越广泛的应用。涡流涂镀层测厚仪工作原理1. 基本原理涡流涂镀层测厚仪的基本工作原理是,当测头与被测式样接触时,测头装置所产生的高频电磁场, 使置于测头下的金属导体产生涡流,其振幅和相位是导体与测头之间非导电覆盖层厚度的函数. 即该涡流产生的交变电磁场会改变测头参数,而测头参数变量的大小,并将这一电信号转换处理,即可得到被测涂镀层的厚度.2. 影响测量精度的原因(1) 覆盖层厚度大于25µm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;(2) 基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;(3) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;(4) 涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的.(5) 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;(6) 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大;(7) 涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触.

2022-08-22 16:09:57金相显微镜应用于电镀铜片和镀锡片: 铜是理想的导电材料，电线和PCB中都有广泛使用，而在用于镀层工艺时，好的铜镀层和锡镀层，不仅可以相比纯铜/铜铁合金有更好的抗拉伸性、硬度、导电性能和可焊性，还能提升耐腐蚀性。近期，客户需要一台金相显微镜观察电镀铜片和镀锡片，明美销售经理推国产金相显微镜MJ43搭配国产显微镜相机MSX11国产金相显微镜MJ43搭配国产显微镜相机MSX11 观察电镀铜片和镀锡片金相显微镜主要是通过对组织形貌的检查来分析电镀铜和镀锡的组织与其化学成分的关系；可以确定电镀铜和镀锡通过不一样的化学处理后的晶粒细化显微组织；以此来判断电镀铜和镀锡的质量的好坏。金相显微镜MJ43显微数字相机MSX11采用4/3英寸大靶面高性能成像芯片，内置MS系列硬件ISP图像处理芯片，针对显微镜拍摄场景特别优化，精确还原样品的精细结构和真实色彩，通过硬件加速，极大提升了相机运行速度，是荧光拍摄、病理诊断、金相分析和体视观察等应用领域的理想工具。显微数字相机MSX11如果您对电镀铜片和镀锡片金相显微镜感兴趣或有疑问，欢迎与我们联系，期待与您相约！本文网址：http://www.mshot.com.cn/kehuanli/20220716.html，转载请保留出处，谢谢！

2023-05-25 17:40:52绿色伏安法镍电镀槽液中稳定剂的测量: 化学镀镍以其卓越的耐腐蚀性和耐磨性、低成本、均匀的厚度以及在复杂基材上电镀的能力而闻名，被广泛使用在如航空航天、建筑、电子、特别是在 PCB（印刷电路板）制造过程中。化学镀镍的过程在一个特定的镍电镀槽中进行。化学镀镍液通常包含几个关键成分，包括镍盐、还原剂、pH调节剂、稳定剂和络合剂。镀液的具体成分通常会有所不同，可能会添加额外的成分以实现特定的涂层性能或提高电镀效率。电镀槽与电镀液一旦在基材表面形成初始的镍层，电镀过程就会自发进行。此时，稳定剂在化学镀镍液中起着重要的作用，因为它们可以控制电镀速度并防止镀液分解。稳定剂浓度的波动可能会影响沉积速率、镀液稳定性等，因此，监测稳定剂的浓度在电镀过程中至关重要。常用的稳定剂包括 Pb、Bi 和 Sb(III) 等。镍电镀槽液中稳定剂监测解决方案更“绿色”的非汞电极解决方案伏安法（VA）使用电化学传感器来测定重金属离子。通过测量电流与外加电位的关系，可以确定溶液中不同离子的浓度。与其他分析技术如原子吸收光谱法（AAS）和电感耦合等离子体（ICP）光谱法相比，VA具有以下优点：VA拥有多项优势MVA-22全自动型伏安极谱仪伏安法的非汞时代更“绿色”的非汞电极解决方案多年来，汞电极广泛用于伏安法测定重金属。其有着高灵敏度、广泛的阴极极化范围等多重优点，十分适合于痕量重金属测定。但汞本身是有毒的，为了减少金属汞对环境的不利影响，瑞士万通开发了四种新型非汞电极。瑞士万通开发的非汞电极◆ scTRACE Gold 金电极◆ 11L丝网印刷电极◆ 玻碳（GC）电极◆ 铋（Bi）电极应用案例使用铋电极检测电镀液中的PbPb 是镍镀液中最有效的稳定剂之一。通常情况下，Pb 含量大约为1mg/L。我们将镀液样品进行稀释，通过阳极溶出伏安法（ASV）进行 Pb 浓度的测定。经过连续10次测量，回收率在94%和101%之间，相对标准偏差低于3%。我们对含有0.3 mg/L Pb 的镀液样品（NB1）使用铋电极进行测定，结果如下图所示。沉积时间60秒，Pb的测试结果为313µg/L此外，我们对两种不同样品（NB1和NB2）进行加标回收率分析，得到的结果如下。Pb的加标量分别为0.1mg/L, 0.3mg/L, 和 1.2mg/L使用scTRACE Gold金电极检测电镀液中的Bi和Sb(III)由于世界各地对 Pb 的管控，电镀行业开始使用 Bi 和 Sb(III) 作为 Pb 的替代品，在电镀过程中用作稳定剂。因此，Bi 和 Sb(III) 同样需要被监测，以保持电镀的最佳条件。电镀液中Bi和Sb(III)的测定可以用scTRACE Gold 金电极来完成。测试样品中待测物浓度如下：在一系列连续的10次测量中，Bi的相对标准偏差低于4%，Sb（III）的相对标准偏差低于8%。Bi的回收率在103%到106%之间，Sb（III）的回收率在93%到110%之间。结果如下图所示。沉积时间30秒，Bi 的测试结果为99µg/LBi 的加标回收率测试沉积时间30秒，Sn(III) 的测试结果为95µg/LSn(III) 的加标回收率测试总结伏安法（VA）因为其灵敏度高，检出限低等特点十分适用于痕量重金属检测。瑞士万通全新非汞电极在实际使用中拥有不亚于传统汞电极的性能，是非汞时代的理想电极之选。

2021-07-05 11:06:46非接触无损涂层测厚仪的技术优势: 涂层厚度是一个重要的工艺参数，在产品质量、过程控制和成本控制中都发挥着非常重要的作用。目前，许多不同种类的仪器和方法都可以用来测量涂层的厚度，但在选取合适的测量方法时需要考虑各种因素，比如涂层类型、基体材料、涂层厚度范围、被测件的形状和尺寸等。 AIM Systems 有限责任公司是一家专注于工业涂布涂覆无损检测技术的德国光电科技公司，集研发、生产、销售和服务为一体，拥有非接触无损涂层检测的技术和产品。AIM Systems公司生产的CoatPro非接触无损涂层测厚仪采用光热红外法工作原理，可以在线或离线对涂层厚度进行无损非接触式测量，测量时间短适用范围广，可以有效地帮助客户控制质量，节约成本，为客户的产线升级提供可靠的自动化检测手段，并未客户优化工艺提供重要的数据支持。 CoatPro非接触无损涂层测厚仪的技术优势如下：非接触无损测量可测量干膜和湿膜适用于各种材料上的各种涂层测厚，可在曲面、粗糙表面和各种厚度的基底上测量适用于工业生产环境、测量精确且稳定适用于各种涂装工艺满足工业防爆安全区要求探测距离和可探测角度的容差范围广可在线实时测量使用安全，无辐射和激光危害同类技术中的zui高精度适用范围广：底材材质不限(金属、塑料、橡胶、复合材料等），涂料种类不限（油漆、粉末涂料、粘胶剂、润滑涂层等）

2021-06-24 15:22:20光热红外法涂层测厚仪的测量原理: 德国AIM Systems公司的光热红外法涂层测厚仪CoatPro可以离线或在线对涂层厚度进行非接触无损测量，测量时间短适用范围广，可以有效地帮助客户控制质量，节约成本，为客户的产线升级提供可靠的自动化检测手段，并未客户优化工艺提供重要的数据支持。测量原理：光热红外法涂层测厚仪CoatPro采用的工作原理是光热红外法。利用光源照射物体表面，通过对激励光源进行强度调制，在材料中产生热波，光源激发的热量通过热波在涂层中向深处传播，这一热波在涂层与基材的边界处反射并传播出涂层以红外热辐射的形式被探测器吸收。涂层越厚，该过程花费的时间越长吗。因此利用红外探测器探测红外热辐射（相移）的信号就可以获得涂层的厚度信息。由于表征涂层厚度（或其他参数）的不是信号幅度而是信号相位，即辐射热波相对于激发光波的时间偏移，因此这种测量方式对测量距离或探测角度的变化不敏感。这样，可以非常高精度地测量涂层厚度和面密度。光热红外法测量的精度在亚微米范围内，通常比目前工业上常用的测量方式要精确得多。利用光热红外法进行准确的涂层测量必须满足以下两个条件：1. 表面材料可以吸收光2. 在涂层和基材之间有足够的热折射率差这些条件适用于绝大多数的材料组合，所以光热红外法涂层测厚仪适用面很广实用性很强。除了可以测量常规的金属基材表面的涂层以外，也可以很好地应用于塑料、橡胶、陶瓷和复合材料表面的涂层测量。测量所使用的激励光源对人体无害，对被测物体表面也仅加热几个开尔文（摄氏度）即可。涂层本身不受测量的影响。如前所述光热红外法涂层测厚仪测量的是信号相位，该信号与测量的距离和角度无关，所以待测物的形状和涂层表面的粗糙度对测量结果没有明显的影响。

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