- 2024-12-13 09:52:06、荧光分析仪
- 荧光分析仪是一种专业用于物质成分分析的高精度仪器。它利用物质在特定波长光的激发下产生荧光的原理，通过测量荧光光谱和强度，准确、快速地测定样品中的成分含量。该仪器具有测量准确度高、分析速度快、操作简便等特点，广泛应用于环境监测、食品安全、生物医药等领域。荧光分析仪能够检测多种元素和化合物，为科研、生产和质量控制提供了有力的支持。
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、荧光分析仪文章
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- HORIBA作为XRF技术的先行者，其MESA-50K型号更是集多项先进技术于一身，为用户提供的分析性能和便捷的操作体验。本文将深入剖析MESA-50K的独特之处，旨在为相关从业者提供一份详实的参考。
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- 该仪器采用先进的荧光光谱分析技术，可快速、准确地对样品进行定性和定量分析，尤其适用于环境监测、化学分析、材料检测等多个领域。本文将详细介绍K-600手持式荧光分析仪的特点、技术参数和应用场景，为科研工作者和工业从业者提供深入的产品理解。
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- 科迈斯手持式荧光分析仪K-600特点
- 它将紧凑机身、低功耗照明和高灵敏探测结合，支持快速定性定量分析、样品筛选和现场确认，适配化学、生命科学、环境监测、食品药品以及材料与工艺检测等场景。下列内容以产品知识普及为主，以参数、型号、特点等数据化信息呈现，方便科研与现场人员对比选型、快速定位需求。
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- 科迈斯手持式荧光分析仪K-600参数
- 本篇聚焦K-600系列的关键参数、型号差异与实际应用要点，便于科研、实验室与工业现场的技术对接与快速选型。
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- 科迈斯手持式荧光分析仪K-600参数
- 以下内容以参数、型号与产品特点为核心，便于技术对比与采买决策。
、荧光分析仪产品
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- X荧光分析仪-德国斯派克SPECTROCUBE偏振能量色散X荧光分析仪
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HORIBA（中国）
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- 霍尔德 atp荧光分析仪-atp荧光分析仪-atp荧光分析仪 HED-ATP
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山东霍尔德电子科技有限公司
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- 日立 EA1000VX X射线荧光分析仪
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日立分析仪器（上海）有限公司
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、荧光分析仪问答
- 2021-01-21 14:20:32有效易用，智能坚固——奥林巴斯新款在线X射线荧光分析仪Vanta iX登场
- 新款Vanta iX在线X射线荧光（XRF）分析仪现已上市。该分析仪可以对生产线上的产品进行自动材料分析和合金的牌号辨别，并即时提供结果，从而可对生产过程进行实时监控，并对产品进行100%无遗漏检测。 全天候，有效易用Vanta iX可以全天时、全天候（24/7）运行的分析仪，简化了金属制造和地质选矿的质量检测过程。金属制造过程需要受到全天时、全天候（24/7）的控制，以确保产品由正确的合金制造，避免出现代价高昂的材料混淆错误。 Vanta iX分析仪可以在几秒钟内提供明晰的材料成分和合金的牌号信息，因此金属制造商可以此证明他们的产品经过了100%无遗漏检测和验证。分析仪可提供通过/失败结果，或完整的材料化学成分信息。在地质选矿和采矿方面，分析仪可以对岩芯进行扫查，对传送带上的矿石进行分析，并提供实时结果，以监控选矿和采矿过程中发生的变化，并确保矿石品位的一致性。强大的性能通过硅漂移探测器（SDD）和奥林巴斯业已成熟的Axon技术，这款分析仪可以对包括轻元素在内的多种金属和合金进行检测和牌号辨别。这款分析仪具有与其他Vanta系列分析仪相同的高计数率和稳定性。智能整合传输Vanta iX分析仪易于安装在制造环境中：使用其两侧的安装孔就可将其安装到机器人或其他系统上。通过Vanta Connect API（应用程序编程接口）或一个PLC（可编程逻辑控制器），并借助离散导线，可以轻松控制分析仪。连接器选项包括用于以太网供电的以太网(RJ-45)、USB、离散I/O（16针）和辅助DC电源。坚固，适合生产 这款分析仪通过了振动测试（MIL-STD-810G），符合IP54评级标准，可在-10 °C至50 °C的温度范围内连续工作，可以承受住生产设备的剧烈振动、强烈的电磁噪声和声学噪音、灰尘和湿气的侵扰。内置散热器可以降低分析仪内部的温度，如果需要进一步冷却，还可以通过风扇连接点连接一个风扇。无需使用工具，就可以更换分析仪的窗口，从而实现快速维护的目标。
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- 2020-02-12 13:41:19X射线荧光分析仪-黄铜管路配件的裂纹分析
- 简介 为了Z大限度地减少因产品缺陷造成的损失，必须在早期阶段查明原因，采取措施防止问题再次发生。X射线荧光分析仪( ED-XRF)对任何状态的样品，不管是固体、液体还是粉末，都能提供快速、无损的元素分析，可以作为早期查明原因的筛选仪器使用。ED-XRF 下图是因开裂发生漏水的黄铜管(用于冷却水系统)管路配件，我们利用ED-XRF对裂纹处进行了元素分析。 根据元素分析结果发现Sn、Pb的含量是有差异的。由于裂纹部分的元素分布状态不同于正常部位，就利用EPMA进行了精密分析。EPMA EPMA能确认元素的分布状态及组织结构的大小。利用EPMA进行元素面分布，发现主要成分Cu和Zn的组织结构大小不同总结 ED-XRF能简便、快速地获得所含元素的信息。此外，根据这些元素信息还可以在早期阶段确定后续的精密分析方法。EPMA的元素面分布，能获得有关元素的分布状态及成份信息，有助于查明故障发生的原因。
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- 2020-03-04 17:18:48X射线荧光分析仪-利用薄膜FP法测试膜厚
- 简介 利用薄膜FP法测试膜厚为了提高产品部件的耐腐蚀性、装饰性和功能性，电镀等表面处理技术被广泛地应用于各个行业。由于镀膜的厚度与产品的特性、质量及生产成本有关，因此管理非常重要，对镀层厚度有着多种测试、分析和评定方法。X射线荧光光谱仪可以进行无损、无标样分析，Z多能够测试5层镀膜。各种标准样品的测试实例1.金镀层样品测试条件管电压：50 kV准直器直径：0.9 mm Φ气氛：大气测试时间：60秒谱图分析结果 2.镍镀层样品测试条件管电压：50 kV准直器直径：0.9 mm Φ气氛：大气测试时间：60秒谱图分析结果3、锌镀层样品测试条件管电压：50 kV准直器直径：0.9 mm Φ气氛：大气测试时间：60秒谱图分析结果4、银镀层样品测试条件管电压：50 kV准直器直径：0.9 mm Φ气氛：大气测试时间：60秒谱图分析结果使用仪器：JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪
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- 2018-12-08 14:24:55X荧光分析仪的简介
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- 2018-11-25 05:51:23X荧光分析仪的工作原理及特点
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