- 2026-04-20 15:16:41荧光分析仪
- 荧光分析仪是一种基于物质受光激发后发射荧光的原理进行定性或定量分析的设备。它利用特定波长的光照射样品,使样品中的荧光物质吸收光能后跃迁到激发态,再返回到基态时发出荧光。通过检测荧光的强度、波长等参数,可以分析样品的成分、浓度或结构。荧光分析仪广泛应用于生物医学、环境监测、食品安全等领域,具有灵敏度高、选择性好、操作简便等优点。
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荧光分析仪问答
- 2021-01-21 14:20:32有效易用,智能坚固——奥林巴斯新款在线X射线荧光分析仪Vanta iX登场
- 新款Vanta iX在线X射线荧光(XRF)分析仪现已上市。该分析仪可以对生产线上的产品进行自动材料分析和合金的牌号辨别,并即时提供结果,从而可对生产过程进行实时监控,并对产品进行100%无遗漏检测。 全天候,有效易用Vanta iX可以全天时、全天候(24/7)运行的分析仪,简化了金属制造和地质选矿的质量检测过程。金属制造过程需要受到全天时、全天候(24/7)的控制,以确保产品由正确的合金制造,避免出现代价高昂的材料混淆错误。 Vanta iX分析仪可以在几秒钟内提供明晰的材料成分和合金的牌号信息,因此金属制造商可以此证明他们的产品经过了100%无遗漏检测和验证。分析仪可提供通过/失败结果,或完整的材料化学成分信息。在地质选矿和采矿方面,分析仪可以对岩芯进行扫查,对传送带上的矿石进行分析,并提供实时结果,以监控选矿和采矿过程中发生的变化,并确保矿石品位的一致性。强大的性能通过硅漂移探测器(SDD)和奥林巴斯业已成熟的Axon技术,这款分析仪可以对包括轻元素在内的多种金属和合金进行检测和牌号辨别。这款分析仪具有与其他Vanta系列分析仪相同的高计数率和稳定性。智能整合传输Vanta iX分析仪易于安装在制造环境中:使用其两侧的安装孔就可将其安装到机器人或其他系统上。通过Vanta Connect API(应用程序编程接口)或一个PLC(可编程逻辑控制器),并借助离散导线,可以轻松控制分析仪。连接器选项包括用于以太网供电的以太网(RJ-45)、USB、离散I/O(16针)和辅助DC电源。坚固,适合生产 这款分析仪通过了振动测试(MIL-STD-810G),符合IP54评级标准,可在-10 °C至50 °C的温度范围内连续工作,可以承受住生产设备的剧烈振动、强烈的电磁噪声和声学噪音、灰尘和湿气的侵扰。内置散热器可以降低分析仪内部的温度,如果需要进一步冷却,还可以通过风扇连接点连接一个风扇。无需使用工具,就可以更换分析仪的窗口,从而实现快速维护的目标。
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- 2020-02-12 13:41:19X射线荧光分析仪-黄铜管路配件的裂纹分析
- 简介 为了Z大限度地减少因产品缺陷造成的损失,必须在早期阶段查明原因,采取措施防止问题再次发生。X射线荧光分析仪( ED-XRF)对任何状态的样品,不管是固体、液体还是粉末,都能提供快速、无损的元素分析,可以作为早期查明原因的筛选仪器使用。ED-XRF 下图是因开裂发生漏水的黄铜管(用于冷却水系统)管路配件,我们利用ED-XRF对裂纹处进行了元素分析。 根据元素分析结果发现Sn、Pb的含量是有差异的。由于裂纹部分的元素分布状态不同于正常部位,就利用EPMA进行了精密分析。EPMA EPMA能确认元素的分布状态及组织结构的大小。利用EPMA进行元素面分布,发现主要成分Cu和Zn的组织结构大小不同总结 ED-XRF能简便、快速地获得所含元素的信息。此外,根据这些元素信息还可以在早期阶段确定后续的精密分析方法。EPMA的元素面分布,能获得有关元素的分布状态及成份信息,有助于查明故障发生的原因。
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- 2020-03-04 17:18:48X射线荧光分析仪-利用薄膜FP法测试膜厚
- 简介 利用薄膜FP法测试膜厚为了提高产品部件的耐腐蚀性、装饰性和功能性,电镀等表面处理技术被广泛地应用于各个行业。由于镀膜的厚度与产品的特性、质量及生产成本有关,因此管理非常重要,对镀层厚度有着多种测试、分析和评定方法。X射线荧光光谱仪可以进行无损、无标样分析,Z多能够测试5层镀膜。各种标准样品的测试实例1.金镀层样品测试条件管电压:50 kV准直器直径:0.9 mm Φ气氛:大气测试时间:60秒谱图分析结果 2.镍镀层样品测试条件管电压:50 kV准直器直径:0.9 mm Φ气氛:大气测试时间:60秒谱图分析结果3、锌镀层样品测试条件管电压:50 kV准直器直径:0.9 mm Φ气氛:大气测试时间:60秒谱图分析结果4、银镀层样品测试条件管电压:50 kV准直器直径:0.9 mm Φ气氛:大气测试时间:60秒谱图分析结果使用仪器:JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪
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- 2018-12-08 14:24:55X荧光分析仪的简介
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