2025-01-10 10:53:39椭偏仪SE-RD-STD

椭偏仪SE-RD-STD是一款高精度的光学测量仪器，专门用于分析材料表面的椭偏特性。它能够快速、准确地测量薄膜的厚度、折射率等光学参数，基于椭偏光原理，通过测量光与材料相互作用后的偏振状态变化来实现。SE-RD-STD具有测量范围宽、自动化程度高、数据准确可靠等特点，广泛应用于半导体、光学元件、材料科学等领域，为材料研发、质量控制及光学系统设计提供了有力支持。

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