2025-01-10 10:53:39椭偏仪SERD-Z

椭偏仪SERD-Z是一款高精度的光学测量仪器，专门用于分析材料表面的椭偏特性。它能够快速、准确地测量薄膜的厚度、折射率及光学常数等关键参数。该仪器采用先进的椭偏测量技术和自动化控制系统，具有测量准确度高、操作简便、测试速度快等特点。SERD-Z广泛应用于半导体、光学元件、材料科学等领域，为材料研发、质量控制及光学系统设计提供了有力的技术支持。

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