2025-01-10 17:05:38原子力显微镜(AFM)
原子力显微镜(AFM)是一种高分辨率的扫描探针显微镜,用于研究材料表面的纳米级形貌。它通过探测针尖与样品表面原子间的相互作用力来绘制表面形貌图。AFM具有高精度、非破坏性、适用范围广等优点,可用于研究固体表面结构、吸附层、薄膜及生物分子等。它不仅能提供样品表面的三维形貌图像,还能测量表面粗糙度、摩擦力等性质,在材料科学、物理学、化学、生物学等领域有广泛应用。

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