2025-01-10 10:53:54一体式探针
“一体式探针”是一种集成了传感器和信号处理单元的分析工具。它将传感探针与信号转换、放大、处理等电路集成于一体,具有结构紧凑、操作简便、响应速度快等特点。一体式探针广泛应用于环境监测、生物医疗、化学分析等领域,能够实现对溶液中离子、生物分子等的快速、准确检测。其高度集成的设计使得测量更加便捷,提高了分析的效率和准确性。

资源:2466个    浏览:12展开

一体式探针相关内容

产品名称

所在地

价格

供应商

咨询

【NCHV-A探针】bruker 原子力显微镜探针
国外 欧洲
面议
上海尔迪仪器科技有限公司

售全国

我要询价 联系方式
【SNL-10探针】bruker 原子力显微镜探针
国外 欧洲
面议
上海尔迪仪器科技有限公司

售全国

我要询价 联系方式
【SCANASYST-FLUID探针】bruker 原子力显微镜探针
国外 欧洲
面议
上海尔迪仪器科技有限公司

售全国

我要询价 联系方式
【SCANASYST-FLUID探针+】bruker 原子力显微镜探针
国外 欧洲
面议
上海尔迪仪器科技有限公司

售全国

我要询价 联系方式
bruker台阶仪探针
国外 欧洲
面议
上海尔迪仪器科技有限公司

售全国

我要询价 联系方式
2025-04-23 14:15:17接触角测量仪探针怎么调
接触角测量仪探针的调整是确保测量精度和仪器性能的关键步骤。在进行接触角测量时,探针的正确调整可以显著影响测量结果的准确性与一致性。本文将详细介绍如何调节接触角测量仪的探针,以确保测量过程中各项参数的佳配置,并帮助用户避免常见的操作失误。通过正确的操作,不仅能提高测量效率,还能延长仪器的使用寿命。因此,掌握探针调整的技巧,对每一位使用接触角测量仪的工程师和技术人员来说,都是至关重要的。 接触角测量仪探针的调整通常涉及多个方面,其中包括探针的垂直度、位置以及与样品表面接触的角度。为了确保探针能够精确地接触到样品表面,必须调整仪器的探针支撑架。通过调节支撑架的角度和高度,可以保证探针始终与样品表面垂直,从而减少因角度不准确引起的测量误差。 接触角测量仪的探针必须精确定位,以确保每次实验中探针与液滴接触的条件一致。通常,这需要通过微调螺丝来实现精细定位,确保探针的每次接触位置不会偏离设定的标准位置。如果探针位置发生偏差,液滴的分布情况将不均匀,从而影响接触角的准确度。 在进行探针调整时,还需要考虑环境因素对测量结果的影响,例如温度、湿度以及空气流动等。任何这些因素的变化都可能导致测量值的波动。因此,在调节探针时,确保操作环境稳定,也是确保接触角测量结果准确性的重要步骤。 接触角测量仪探针的调节是确保实验数据可靠性的基础。通过合理的调整方法和操作技巧,能够有效地提高测量精度,并保证每次实验结果的一致性。在实际操作中,专业人员应根据仪器的具体要求和操作手册,谨慎调整探针的各项参数,避免因不当调整导致测量误差。
4人看过
2023-05-09 09:29:50Ecodrone®一体式高光谱-激光雷达无人机遥感系统——森
在陆地生态系统中,森林是最 大的有机碳库,是陆地中重要的碳汇和碳源,因此了解森林生态系统在碳循环中的作用,对于研究陆气系统的碳循环乃至全 球碳循环都是一个基础,具有重要的意义。易科泰光谱成像与无人机遥感技术研究中心最 新推出Ecodrone®一体式高光谱-激光雷达无人机遥感系统,助力森林碳循环研究及应用。性能特点:8旋翼专业无人机遥感平台,搭载VNIR/NIR高光谱成像、机载PC及激光雷达可飞行作业20分钟以上,有效覆盖面积超10ha厘米级地面分辨率,50m高度高光谱成像地面分辨率达3.5cm,30m高度(用于高分辨率林木表型分析)地面分辨率可达2cm50m高单样线飞行作业可自动采集形成宽度36m的样带高光谱成像大数据高密度三维点云,精确度2.5cm,最 高可达3次回波,50m飞行高度点云密度700pts/m2专业无人机遥感技术方案,同步获取高光谱与激光雷达数据,应用软件可直接得出近百种植被光谱反射指数、高密度三维点云、三维测量数据、分类点云、DTM等应用于大范围、多维度的森林遥感研究、碳循环研究、林木三维表型测量、植被资源调查、森林物种多样性研究、植被生物及非生物胁迫分析、环境及生态系统动态变化研究等案例一:森林碳库分布研究森林地上生物量(AGB)的估算对于碳循环建模和气候变化缓解方案的制定至关重要。来自意大利、美国和英国的研究人员将主动和被动传感器结合,其中被动型高光谱数据记录了潜在与森林生物量相关的冠层光谱信息,并将这些信息与主动型小型激光雷达获取的参数相结合,实现了在不同尺度上对森林生态系统的有机碳分布进行遥感计算。       研究区域位于塞拉利昂的戈拉雨林国家公园 (GRNP) 内,处于西非潮湿的上几内亚森林带的最西端,该地区的森林主要为湿润低地常绿林,部分地区主要为干燥低地常绿和半落叶林类型。图1.1 位于塞拉利昂和利比里亚之间的研究区域研究人员采用偏最 小二乘回归(PLSR)处理多输入和多重共线性问题,计算投影中的重要性变量(VIP),以评价各预测因子对生物量的重要性。结果表明,当单独使用高光谱波段时,其预测能力有限(R2 =0.36),用植被指数替代高光谱波段的改善较小(R2 =0.67),仅基于激光雷达指标,PLS预测AGB的决定系数(R2)为0.64,当再将高光谱波段添加到激光雷达度量中,精度得到了适度的提高(R2 =0.70)。图1.2 (左)不同输入的预测与现场观测AGB的散点图:(A)激光雷达指标,(B)高光谱波段,(C)激光雷达指标和 VI,(D)激光雷达指标和高光谱波段;(右)7个高度等级,每个等级间隔10m的70个样地(总面积= 87500m2)范围的AGB和树木数量森林是碳的主要吸收者,它所固定的碳相当于其他植被类型的2倍,本研究中提出的高光谱和激光雷达数据融合相关的发现非常具有意义,有助于扩大该系统数据融合适用性的研究,进而对全 球气候变化研究做出更重要的贡献。案例二:森林碳汇定量评估比较森林地上生物量生物量是影响气候变化和森林生产力的重要因素,因此评估森林对碳汇和碳循环的贡献程度具有重要的意义。韩国科研人员借助高精度激光雷达数据、数字航空摄影测量图像、高光谱图像等空间信息,对森林碳汇信息进行定量评估。研究区位于韩国庆尚南道巨济市,该区域森林密度相对较低,树种多样,森林资源丰富,选取研究区内2km*2km的区域进行数据采集。基于高光谱数据中每个树种的光谱信息,使用马氏距离法对树种进行精确分类,基于高密度的LiDAR数据提取森林资源。图2.1 从左至右依次为:研究区;激光雷达数据;高光谱图像图2.2 (左)树种分类结果;(右)利用高密度激光雷达数据提取地理和森林资源的结果将激光雷达与数字航拍图像、高光谱图像相结合计算了混交林、针叶林和阔叶林的碳汇,同时通过对森林资源的树种和年龄信息进行量化,借助激光雷达和数字图像信息对树种、年份、区域的碳汇进行计算。利用激光雷达信息和图像分析的基础数据库,对选定的区域、行政区、年份进行森林信息和碳汇评估分析,实现了精确地碳汇信息提取,结果如2.3/2.4所示。图2.3 多传感器结合的混交林、针叶林和阔叶林的碳汇估算结果图2.4 基于激光雷达和图像信息的森林信息和碳汇评估,从左至右:第 一行(激光雷达数据;DSM;DEM;树高信息);第二行(树种信息图;增长量分析图;碳吸收分布图;土地覆盖图)易科泰生态技术公司致力于生态-农业-健康研究发展与创新应用,为碳源碳汇定量评估、植被资源调查、生态环境监测、森林遥感研究、林木表型分析、林业测绘等领域提供一体化多传感器立体遥感技术方案。参考文献:[1] Laurin G V, Chen Q, Lindsell J A, et al. Above ground biomass estimation in an African tropical forest with lidar and hyperspectral data[J]. ISPRS Journal of Photogrammetry and Remote Sensing, 2014, 89: 49-58.[2] Choi B G, Na Y W, Shin Y S. A Comparative Study of Carbon Absorption Measurement Using Hyperspectral Image and High Density LiDAR Data in Geojedo[J]. Journal of the Korean Society of Surveying, Geodesy, Photogrammetry and Cartography, 2017, 35(4): 231-240.
423人看过
2022-07-14 15:06:51浅谈扫描俄歇纳米探针
简介        扫描俄歇纳米探针,又称俄歇电子能谱(Auger Electron Spectroscopy,简称AES)是一种表面科学和材料科学的分析技术。根据分析俄歇电子的基本特性得到材料表面元素成分(部分化学态)定性或定量信息。可以对纳米级形貌进行观察和成分表征。近年来,随着超高真空和能谱检测技术的发展,扫描俄歇纳米探针作为一种极为有效的表面分析工具,为探索和研究表面现象的理论和工艺问题,做出了巨大贡献,日益受到科研工作者的普遍重视。俄歇电子能谱常常应用在包括半导体芯片成分表征等方向发展历史        近年来,固体表面分析方法获得了迅速的发展,它是目前分析化学领域中最活跃的分支之一。它的发展与催化研究、材料科学和微型电子器件研制等有关领域内迫切需要了解各种固体表面现象密切相关。各种表面分析方法的建立又为这些领域的研究创造了很有利的条件。在表面组分分析方法中,除化学分析用光电子能谱以外,俄歇电子能谱是最重要的一种。目前它已广泛地应用于化学、物理、半导体、电子、冶金等有关研究领域中。        俄歇现象于1925年由P.Auger发现。28 年以后,J.J.Lander从二次电子能量分布曲线中第一次辨认出俄歇电子谱线, 但是由于俄歇电子谱线强度低,它常常被淹没在非弹性散射电子的背景中,所以检测它比较困难。        1968年,L.A.Harris 提出了一种“相敏检测”方法,大大改善了信噪比,使俄歇信号的检测成为可能。以后随着能量分析器的完善,使俄歇谱仪达到了可以实用的阶段。         1969年圆筒形电子能量分析器应用于AES, 进一步提高了分析的速度和灵敏度。        1970年通过扫描细聚焦电子束,实现了表面组分的两维分布的分析(所得图像称俄歇图),出现了扫描俄歇微探针仪器。        1972年,R.W.Palmberg利用离子溅射,将表面逐层剥离,获得了元素的深度分析,实现了三维分析。至此,俄歇谱仪的基本格局已经确定, AES已迅速地发展成为强有力的固体表面化学分析方法,开始被广泛使用。基本原理        俄歇电子是由于原子中的电子被激发而产生的次级电子。当原子内壳层的电子被激发形成一个空穴时,电子从外壳层跃迁到内壳层的空穴并释放出光子能量;这种光子能量被另一个电子吸收,导致其从原子激发出来。这个被激发的电子就是俄歇电子。这个过程被称为俄歇效应。Auger electron emission        入射电子束和物质作用,可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量,可能以X光的形式放出,即产生特征X射线,也可能又使核外另一电子激发成为自由电子,这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射:特征X射线或俄歇电子。原子序数大的元素,特征X射线的发射几率较大,原子序数小的元素,俄歇电子发射几率较大,当原子序数为33时,两种发射几率大致相等。因此,俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。        如果电子束将某原子K层电子激发为自由电子,L层电子跃迁到K层,释放的能量又将L层的另一个电子激发为俄歇电子,这个俄歇电子就称为KLL俄歇电子。同样,LMM俄歇电子是L层电子被激发,M层电子填充到L层,释放的能量又使另一个M层电子激发所形成的俄歇电子。        只要测定出俄歇电子的能量,对照现有的俄歇电子能量图表,即可确定样品表面的成份。由于一次电子束能量远高于原子内层轨道的能量,可以激发出多个内层电子,会产生多种俄歇跃迁,因此,在俄歇电子能谱图上会有多组俄歇峰,虽然使定性分析变得复杂,但依靠多个俄歇峰,会使得定性分析准确度很高,可以进行除氢氦之外的多元素一次定性分析。同时,还可以利用俄歇电子的强度和样品中原子浓度的线性关系,进行元素的半定量分析,俄歇电子能谱法是一种灵敏度很高的表面分析方法。其信息深度为5nm以内,检出限可达到0.1%atom。是一种很有用的分析方法。系统组成        AES主要由超高真空系统、肖特基场发射电子枪、CMA同轴式筒镜能量分析器、五轴样品台、离子枪等组成。以ULVAC-PHI的PHI 710举例,其核心分析能力为25 kV肖特基热场发射电子源,与筒镜式电子能量分析器CMA同轴。伴随着这一核心技术是闪烁二次电子探测器、 高性能低电压浮式氩溅射离子枪、高精度自动的五轴样品台和PHI创新的仪器控制和数据处理软件包:SmartSoft AES ™ 和 MultiPak ™。并且,目前ULVAC-PHI的PHI 710可以扩展冷脆断样品台、EDS、EBSD、BSE、FIB等技术,深受广大用户认可。PHI710激发源,分析器和探测器结构示意图:        为满足当今纳米材料的应用需求,PHI 710提供了最高稳定性的 AES 成像平台。隔声罩、 低噪声电子系统、 稳定的样品台和可靠的成像匹配软件可实现 AES对纳米级形貌特征的成像和采谱。        真正的超高真空(UHV)可保证分析过程中样品不受污染,可进行明确、准确的表面表征。测试腔室的真空是由差分离子泵和钛升华泵(TSP)抽气实现的。肖特基场发射源有独立的抽气系统以确保发射源寿命。最新的磁悬浮涡轮分子泵技术用于系统粗抽,样品引入室抽真空,和差分溅射离子枪抽气。为了连接其他分析技术,如EBSD、 FIB、 EDS 和BSE,标配是一个多技术测试腔体。         PHI 710 是由安装在一个带有 Microsoft Windows ® 操作系统的专用 PC 里的PHI SmartSoft-AES 仪器操作软件来控制的。所有PHI电子光谱产品都包括执行行业标准的 PHI MultiPak 数据处理软件用于获取数据的最大信息。710 可应用互联网,使用标准的通信协议进行远程操作。AES的应用        扫描俄歇纳米探针可分析原材料(粉末颗粒,片材等)表面组成,晶粒观察,金相分布,晶间晶界偏析,又可以分析材料表面缺陷如纳米尺度的颗粒物、磨痕、污染、腐蚀、掺杂、吸附等,还具备深度剖析功能表征钝化层,包覆层,掺杂深度,纳米级多层膜层结构等。AES的分析深度4-50 Å,二次电子成像的空间分辨可达 3纳米,成分分布像可达8纳米,分析材料表面元素组成 (Li ~ U),是真正的纳米级表面成分分析设备。可满足合金、催化、半导体、能源电池材料、电子器件等材料和产品的分析需求。AES 应用的几种例子,从左到右为半导体FIB-cut,锂电阴极向陶瓷断面分析小结本文小编粗浅的介绍了俄歇电子能谱AES的一些基础知识,后续我们还会提供更有价值的知识和信息,希望大家持续关注“表面分析家”!
337人看过
三气培养基
负压隔离器
瞬稳态荧光光谱仪
手持式X射线荧光光谱仪
荧光光谱测试仪
硝酸盐检测试剂盒
高速切割机
中药压片机
xrf荧光光谱分析仪
探针式电子温度计
SUS304
液相原子荧光光谱仪
外延片俄歇电子能谱
一体式探针
微型荧光光谱仪
小型压片机
干粉压片机
稳瞬态荧光光谱仪
热压压片机
台式荧光光谱仪
桌面式x射线衍射仪
微区荧光光谱仪
四探针电导率仪
x 射线荧光光谱仪
紫外可见光荧光光谱仪
原位x射线衍射仪
探针测试仪
微焦点x射线检测仪
thermo红外光谱仪
锌靶俄歇电子能谱
感染性污水消毒设备
等离子弧切割机
荧光分光光度仪
硅胶加热板
石墨烯加热板
生物安全型双扉