2025-01-21 09:33:16X-射线电子能谱(XPS)
X-射线电子能谱(XPS)是一种表面分析技术,用于测定材料表面元素组成及化学态。该技术利用X射线激发样品表面原子的内层电子,通过测量这些电子的能量分布,可得到元素的种类、含量及化学态信息。XPS具有高灵敏度和高分辨率的特点,能分析除H、He以外的所有元素,尤其适用于研究材料表面的化学性质、元素分布及化学键合状态,在材料科学、表面科学等领域有广泛应用。

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