半导体控温设备测试说明

半导体控温设备在冷源和热源的温度下进行测试的工作，那么半导体控温设备测量可重复性以及可复制性也是很重要的，这些在测试中需要注意什么呢？

半导体控温设备测量可重复性和可复制性是用于评估测试设备对相同的测试对象反复测试而能够得到重复读值的能力的参数。也就是说是用于描述测试设备的稳定性和一致性的一个指标。对于半导体测试设备，这一指标尤为重要。从数学角度来看，就是指实际测量的偏移度，测试工程师必须尽可能减少设备的固定值，过高的值表明测试设备或方法的不稳定性。

半导体控温设备可复制性是说同一个测试系统在不同操作员反复操作下得到一致的测试结果的能力。 当然，在现实世界里，没有哪一台测试设备可以反复获得完全一致的测试结果，通常会受到5个因素的影响：测试标准、测试方法、测试仪器、测试人员、环境因素 所有这些因素都会影响到每次测试的结果，测试结果的准确度只有在确保以上5个因素的影响控制到较小程度的情况下才能保证。

半导体控温设备是需要用户根据具体工况进行型号选择的，为了避免选型过大或者过小，建议还是联系无锡冠亚专业技术人员进行型号选择比较好。（本文来源网络，如有侵权请联系删除，谢谢。）