东隆科技分布式偏振串扰测试仪OLI-P参数

东隆科技推出的OLI-P分布式偏振串扰测试仪，面向实验室、科研机构与工业现场的多点测试需求，提供分布式架构、高精度偏振参数测量以及跨设备数据对比能力。OLI-P以其可扩展通道数、分布式时钟同步与丰富接口，帮助用户实现对光传输链路中偏振相关串扰的快速定位、量化与追溯分析，提升测试效率和结果的可重复性。

OLI-P系列总体特征

• 分布式结构：多节点协同工作，现场可实现跨机房、多站点同步测试，数据合并与远端分析不依赖同一台机。
• 高精度测量：针对偏振串扰、偏振保持、分布式损耗等参数提供高分辨率测量，误差控制在亚dB级别区间内。
• 灵活波长覆盖：广泛覆盖1260-1650 nm波段，兼容常用无源与有源光模块的偏振性能测试需求。
• 丰富接口与协议：支持以太网1G/千兆以上、USB 3.0、光端口等多接口，兼容各类测试软件与自动化平台。
• 软件生态：自带本地GUI与远程控制接口，提供脚本化测试、自动化场景模板以及云端分析模块。

型号对比与关键参数

• OLI-P-100
• 适用场景：小型实验室、单束并行测试
• 通道数：4×4
• 测量范围：偏振串扰 -70 dB 至 0 dB
• 波长覆盖：1260-1650 nm
• 光源与探测：集成可调激光源，内置探测单元
• 采样速率/分辨率：1 MS/s，12 位
• 接口：以太网1G、USB 3.0
• 尺寸/重量：3U机架，约8 kg
• 典型应用：小规模模块测试、教育培训场景
• OLI-P-200
• 适用场景：中型研发、机房多路并行测试
• 通道数：8×8
• 测量范围：-75 dB 至 0 dB
• 波长覆盖：1260-1650 nm
• 光源与探测：内置可调激光与探测阵列
• 采样率/分辨率：2 MS/s，14 位
• 接口：以太网、USB 3.0
• 尺寸/重量：4U，约12 kg
• 额外特性：支持分布式拓扑与云端分析
• OLI-P-400
• 适用场景：大型实验室、产线质控、系统集成
• 通道数：16×16
• 测量范围：-78 dB 至 0 dB
• 波长覆盖：1260-1650 nm
• 光源与探测：高密度探测阵列，低噪声放大
• 采样率/分辨率：4 MS/s，16 位
• 接口：以太网、USB 3.0、光端口
• 尺寸/重量：6U，约22 kg
• 额外特性：分布式时钟、场景化测试模板、冗余电源选项

核心能力与适用场景

• 分布式测试能力：多台OLI-P设备通过统一时钟信号实现严格的时间对齐，适合长距离布线、分布式光链路与环网结构的偏振性能评估。
• 场景化测试模板：可配置链路长度、分布式路由、干扰源模拟等场景模板，快速完成重复性测试，便于标准化评估与验收。
• 数据管理与溯源：统一的数据模型和元数据管理，测试工单、测试条件、固件版本、温湿度等环境数据与结果绑定，便于追溯和质量控制。
• 集成能力强：与现有光测试平台无缝对接，支持脚本化控制和批量测试，便于实验室日常自动化流程的落地。

典型应用要点

• 光模块偏振性能评估：对传输链路中不同阶段的偏振状态进行分段测试，快速定位串扰源。
• 产线质控与一致性验证：对成品光模块实施比对测试，确保不同批次间的偏振特性一致性。
• 系统集成验证：在多设备协同下评估系统级偏振耦合、通道间串扰以及分布式时钟同步的稳定性。
• 学术研究与原型验证：支持高密度通道的偏振测量实验，便于探索新型光子学拓扑。

场景化FAQ

• 该系列适合哪些用户场景？适合实验室小型研发到大规模产线质控的多通道偏振测试需求，尤其需要分布式同步与跨场景数据分析的场景。
• 与传统单机偏振串扰仪相比有哪些优势？在同一系统内可分布协调测试，提升通道密度和现场布线灵活性，数据在不同节点间可统一管理与分析，缩短测试周期。
• 如何选型？若需求偏向单机并行、预算有限，OLI-P-100足以覆盖基本指标；若需要较高通道密度与跨站点测试，考虑OLI-P-200或OLI-P-400，并结合实际带宽与功耗要求确定机架尺寸与散热方案。
• 测试流程通常如何开展？按链路分段布线，设置分布式时钟源、导入场景模板、执行批量测试任务，测试结果在本地软件中查看并导出报告，必要时进行云端分析。
• 如何进行日常维护与校准？建议按厂商指南进行定期自检、光路清洁与连接检查，保留标准化校准任务，记录在测试日志中以便对比。软件定期更新以获得最新的算法优化与模板。

总结 OLI-P系列以分布式结构、强大通道密度和灵活的测试模板为核心竞争力，能够覆盖从基础研究到产线质控的广泛需求。通过高精度的偏振串扰测量、跨设备数据对齐以及丰富的接口与分析工具，帮助实验室与工业现场实现偏振管理的高效化、标准化与可追溯性。若需要进一步的技术对接细节、兼容性评估或现场演示安排，可以联系东隆科技的应用工程师团队。