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用户连发Adv. Funct. Mater.!台式easyXAFS解析电池及能源材料关键结构演化

来源:清砥量子科学仪器(北京)有限公司 更新时间:2026-01-16 10:15:23 阅读量:56
导读:用户连发Adv. Funct. Mater.!台式easyXAFS解析电池及能源材料关键结构演化


台式 X 射线吸收精细结构分析系统easyXAFS打破同步辐射光源的依赖,凭借高灵敏(≤0.1 wt% 样品精准测试)、高检测精度(ppm 级 XES 分析)、宽能量覆盖(4.5–25 keV,适配 70 余种元素)、成熟稳定(服务 200 余家用户,市场占有率超 70%)及跨领域适配(覆盖催化、电池、能源等多前沿方向)等优势,让科研人员在常规实验室环境中即可高效开展 XAFS 与 XES 测试,为材料微观结构研究提供直接可靠的结构证据。近期,多篇发表于 Advanced Functional Materials 的高水平研究,均借助 easyXAFS 完成关键表征,成功解析电池与能源材料领域的核心科学问题,彰显其在推动前沿科研突破中的关键作用。


台式X射线吸收精细结构谱/发射谱仪-easyXAFS

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在电池与能源材料研究中,真实工作状态下的原子尺度结构与电子行为,是推动材料性能提升的核心所在。然而,高电压循环中的电荷补偿路径、多金属体系中的真实位点分布,以及过渡金属局域配位畸变引发的电子结构重排等关键过程,难以通过常规表征手段直接捕捉。X 射线吸收精细结构谱(XAFS)作为解析此类机理的核心工具,其台式化解决方案easyXAFS 凭借突出的优势成为科研人员的共同选择,为相关研究提供了更为便捷、精准的表征方案,以下三大典型案例将充分印证其技术实力。


原位 XAFS 揭示高电压充电下 Co 位点的真实结构稳定性

在富锂层状正极材料中,高电压充电过程往往伴随着复杂的电荷补偿行为,其本质直接决定了材料的可逆容量与长期结构稳定性。为解析不同材料在长循环后的失效机制,研究人员利用easyXAFS对 Co K 边 X 射线吸收谱进行了系统研究[1]

Co K-edge XANES 结果显示,在经历 100 次循环并处于完全充电态后,SRLCO 样品的 Co 吸收边位置相较于 BLCO 明显向高能方向移动,表明 Co 的平均氧化态显著升高,说明在充电过程中 Co3?/Co?? 更充分地参与了电荷补偿过程。该机制有利于 Li? 的高效脱嵌,从而实现更高的可逆容量。


相比之下,BLCO 样品的 Co 吸收边变化较小,却伴随着明显的氧析出行为,表明其电荷补偿过程更多依赖氧参与,导致显著的电化学不可逆性。进一步的 Co K-edge EXAFS 分析表明,BLCO 在 100 次循环后出现 Co–O 与 Co–Co 配位距离压缩,反映出局域配位环境的畸变。这一结果直接揭示了高电压析氧与结构退化之间的内在联系。


通过 XANES 与 EXAFS 的协同分析,easyXAFS 从原子尺度明确指出:稳定的过渡金属电荷补偿路径,是抑制高电压析氧行为、维持结构完整性的关键因素


多金属体系中,XAFS 精准解析 Co / Ni / Zn 的真实占位与协同机制

在多金属尖晶石氧化物体系中,不同金属元素共存往往使真实活性位点难以判定。针对这一问题,研究人员借助 easyXAFS 对 Co、Ni、Zn 等多种元素的 K 边 XAFS 进行了系统分析,从原子尺度揭示了多金属协同调控机制[2]



Co K-edge XANES 结果显示,HEO-HoMSs 样品的吸收边位置高于 CoO 而低于 Co?O?,并相较于 MEO-HoMSs 整体向高能方向移动,表明 Co 的平均价态升高。进一步的 Co K-edge EXAFS 拟合与傅里叶变换分析表明,HEO-HoMSs 中 Co 在晶格中的占位方式发生显著重构:四面体位 Co 的比例明显降低,而八面体位 Co 的占比显著提升。基于 Co K-edge EXAFS 拟合得到的定量配位数结果显示,HEO-HoMSs 中 Co 的八面体占位比例高达 0.84,明显高于对照样品。


同时,Ni 与 Zn 的 K-edge XANES 与 EXAFS 分析表明,这些金属元素倾向于优先占据四面体位,并通过 M–O–Co(M = Ni, Zn)桥联方式与 Co 形成协同结构。WT-EXAFS 分析进一步在 K–R 空间中清晰区分了 Co–O、Co–M、Ni–M 与 Zn–M 的散射贡献,为多金属协同掺杂提供了直接结构证据。研究表明,多金属并非简单掺杂,而是通过位点选择性重分布系统性重塑了 Co 的局域配位环境与电子结构,而这一结论依赖于 XAFS 才能被准确定量。


XAFS 揭示 V 位点配位畸变与电子跃迁的内在联系           

在层状钒基材料中,过渡金属局域配位环境的细微变化往往会引发显著的电子结构重排。为深入理解不同结构中 V 位点的真实几何构型与电子状态差异,研究人员利用 easyXAFS对V K边X射线吸收谱进行了系统分析[3]



V K-edge XANES 结果显示,在 ≈5471 eV 处可观测到明显的 pre-edge 特征峰。该峰源于 1s → 3d 的四极跃迁,对 V 位点的局域对称性及 3d–2p 杂化程度高度敏感。相比 ChVOH,βVOH 样品表现出更强的 pre-edge 峰强度,表明其未占据的 V 3d 态数量增加,反映出 [VO?] 八面体畸变程度的显著提升以及更强的 V–O 轨道杂化效应。


进一步的 V K-edge EXAFS 分析清晰分辨了不同配位壳层的结构特征。位于 ≈1.7 ? 和 ≈2.2 ? 的散射峰主要来源于第一配位壳中的 V–O 单散射贡献,而 ≈2.7 ? 处的峰则对应相邻八面体之间的 V–V 相互作用。WT-EXAFS 分析在 k–R 空间中直观区分了 V–O 与 V–V 的散射贡献,为 EXAFS 拟合结果提供了可靠验证。


该研究从原子尺度建立了 V 位点局域畸变、电子结构重排与性能响应之间的内在联系,充分体现了 XAFS 在解析复杂配位环境中的特有优势。


台式easyXAFS:

从以上三项研究可以看到,无论是高电压电池材料中的结构稳定性问题,多金属体系中的真实协同机制解析,还是过渡金属局域配位与电子行为的精细表征,XAFS 都已成为决定论文深度与说服力的核心证据来源。


目前,easyXAFS 已持续助力科研团队在 Advanced Functional Materials、Advanced Materials、Angewandte Chemie、Nature Communications、JACS、Energy & Environmental Science 等国际高水平期刊发表重要成果,成为推动多学科前沿研究突破的核心技术支撑,为材料科学领域的创新发展注入强劲动力。


  • 高灵敏 XAFS 测试能力:XAFS功能可实现低至 ≤0.1 wt% 含量样品的精准测试,满足低载量催化剂与微量掺杂体系的研究需求;

  • ppm 级 XES 检测能力:XES功能支持 ppm 级含量分析,适用于痕量元素与价态敏感体系的深入研究;

  • 宽能量覆盖范围:能量范围覆盖 4.5–25 keV,可测试 70 余种元素,兼顾多学科、多材料体系的表征需求;

  • 成熟可靠的市场验证:目前 easyXAFS 已服务 200 余家用户,市场占有率超过 70%,设备性能与稳定性经长期科研实践充分验证;

  • 广泛的应用领域:适用于      催化、电池、能源、非晶态材料、陶瓷、核化学、地质与环境科学 等多个前沿研究方向。



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参考文献:

[1]. Liu, Hang, et al. "Surface Reconstruction Enables High‐Voltage, Long‐Life All‐Solid‐State Batteries." Advanced Functional Materials (2025): e16460.

[2]. Liu, Zhihao, et al. "Unlocking Activity Origins of High‐Entropy Spinel Oxides: Tailoring Octahedral Coordination Chemistry for Accelerated Polysulfide Conversion." Advanced Functional Materials (2025): e11616.

[3]. Niu, Huanhuan, et al. "Enhanced Working Voltage in Hydrated Vanadate Cathodes: Insights into [VO?] Octahedral Distortion and V 3d Orbital Splitting." Advanced Functional Materials: e18785.



样机体验:


为了更好的为国内科研工作者提供专业技术支持和服务,Quantum Design中国北京样机实验室开放easyXAFS台式X射线吸收精细结构谱仪样机体验活动,我们将为您提供样机体验测试、样机参观等机会,期待与您的合作! 欢迎您通过扫描下方二维码联系我们。


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