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胤煌 显微计数法微粒分析仪(YH-MIP-0103SE)特点

来源:苏州胤煌精密仪器科技有限公司 更新时间:2025-12-12 08:00:26 阅读量:52
导读:设备以稳定性、重复性和数据可追溯性为核心,适配多源样品、快速评估粒径分布及颗粒计数,为工艺优化和试验验证提供可靠的数据支撑。

胤煌 显微计数法微粒分析仪(YH-MIP-0103SE)特点

胤煌 YH-MIP-0103SE 采用显微计数法进行微粒定量分析,集成高分辨率成像、自动粒径统计与直观报告输出,专为实验室、科研和工业现场的颗粒检测、质量控制与材料研究场景设计。设备以稳定性、重复性和数据可追溯性为核心,适配多源样品、快速评估粒径分布及颗粒计数,为工艺优化和试验验证提供可靠的数据支撑。


主要参数与特点


  • 测量原理:基于显微成像的颗粒识别与形态分析,自动化分割、边界提取与统计计算,输出粒径分布、统计量与面积信息。
  • 粒径范围:0.5 μm 至 100 μm(推荐工作范围0.5–60 μm,超出范围需按具体样品校准)。
  • 最小检测粒径:0.5 μm,适用于超细粉体与涂层碎片的粒径分布分析。
  • 分辨率与放大:镜头组合覆盖20x–200x,分辨率0.5 μm级别的粒径测定。
  • 精度与重复性:粒径误差 ±2%,重复性 CV ≤1.5%(n≥1000 粒子),“一次成像多次分析”的统计稳定性良好。
  • 样品类型与处理:适用于液体悬浮液、干粉样品、涂层碎屑等,需提供稳定的分散情况;对粘度范围有适配要求,通常在1–15 cP之间。
  • 数据输出与软件:内置 YH-MIP-Soft 分析软件,支持粒径分布、粒子计数、面积、周长等统计,导出 CSV、PDF 报告与 PNG/JPEG 图像,便于记录与对比。
  • 接口与集成:USB 3.0、LAN、HDMI 等多接口,数据可直接导入实验室信息管理系统(LIMS)或共享网络存储。
  • 电源与环境:适用 100–240 V、50/60 Hz,功耗约60 W;工作环境温度15–30°C,相对湿度不超过80%RH(无冷凝)。
  • 外形与重量:外形尺寸约420 × 340 × 350 mm,重量约11 kg,便于实验台嵌入式安装与现场移动。
  • 认证与售后:具备 CE、RoHS 等合规认证,提供2年质保、现场培训与远程诊断服务。
  • 标配与选件:标配样品台、镜筒遮光罩、自动对焦模块、校准颗粒标准溶液与清洁套件;选配项包括多通道扩展、针对特定样品的专用光源与镜头组、LIMS对接插件。

型号与配置


  • 标准版 YH-MIP-0103SE:单通道成像与分析,满足日常粒径分布和计数需求。
  • 高通量扩展版:增加第二通道,提升同批次多样品并行分析能力,报告模板可定制以适应生产现场验收流程。
  • 选件组合:自动样品托盘、专用镜头组、校准颗粒套装、外接打印机模块,以及云端数据备份方案,灵活匹配不同实验室规模。

应用场景要点


  • 质量控制(QC):快速评估原材料与成品中的粒径分布,辅助配方调整与工艺稳定性验证。
  • 材料与涂层研究:对涂层粉尘与碎粒进行粒径与形态分析,为界面改性和涂层均匀性研究提供定量依据。
  • 半导体、光电与新材料领域:评估纳米至微米颗粒的分布特征,支撑材料表征与工艺参数筛选。
  • 制药与化妆品工业:在严格粒径控制的配方开发和放行检测中提供可追溯的数据记录。

场景化FAQ


  • 该设备适用于哪些行业和场景?适用于半导体材料、涂料、粉体、药品和化妆品领域的粒径分布分析、颗粒计数与形态统计,尤其在 QC、研发和现场检测场景表现突出。
  • 如何进行日常校准与维护?使用厂家提供的标准颗粒进行日常校准,保持显微镜对焦与照明的稳定性;定期清洁镜头、对光源进行检查,按保养手册执行,确保测量一致性。
  • 与其他粒径分析方法相比,该设备有哪些优势?直接产生粒子成像,避免对比物的依赖,能够直观看到粒子形态与聚集状态,适合复杂样品的分布分析及异常颗粒识别。对需要可视化证据的报告更具说服力。
  • 数据与信息如何对接到实验室系统?支持 USB、LAN 接口输出,CSV/PDF 报告格式,能够无缝对接 LIMS、PIMS 等信息管理系统,并提供可追溯的图像与数值数据。
  • 设备的培训与售后如何保障?提供现场培训与线上培训选项,购机自带的技术支持和远程诊断,遇到问题可快速获得响应与解决方案,常见故障提供快速更换方案。
  • 使用中需要关注的安全事项?请确保样品载玻片及托盘使用符合机构安全规范,光学系统避免高强度直射光直接照射眼睛,日常操作遵循操作规程,避免化学腐蚀性样品对光学部件的长期影响。

如果你正在评估一款能在实验室日常工作中稳定输出可追溯数据的显微计数法微粒分析仪,YH-MIP-0103SE 提供的参数化信息与场景化应用要素,能够帮助决策者明确设备能力边界,并快速对比替代方案的性能差异。通过清晰的数据、直观的成像与灵活的接口,能有效支持从原材料筛选到产品放行的全过程粒径分析需求。


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