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中科微纳 X射线异物检测机ZK-X4015参数

来源:北京中科微纳精密仪器有限公司 更新时间:2025-12-09 20:00:23 阅读量:38
导读:设备以稳定性、准确性和扩展性为核心,适用于医药包装、电子元件、塑料料件及食品包装等场景的质量控制与可追溯检测。

中科微纳 X射线异物检测机 ZK-X4015 参数


中科微纳推出的 ZK-X4015X射线异物检测机,面向实验室、科研和工业现场的异物检测需求,集成高分辨成像、快速检测与灵活对接能力。设备以稳定性、准确性和扩展性为核心,适用于医药包装、电子元件、塑料料件及食品包装等场景的质量控制与可追溯检测。


H2 产品概述 ZK-X4015 以高稳定性X射线源、高清平板探测器和高效图像处理单元为支撑,提供透射成像为主的异物检测能力。系统具备多场景模式切换、自动曝光优化、图像增强和缺陷识别的综合解决方案,支持本地存储与云端数据对接,便于追溯和质量管理。设备结构紧凑,辐射防护符合行业规范,现场布置灵活,便于与现有生产线和检测工位对接。


H2 核心参数与功能


  • 型号与定位:ZK-X4015-X射线异物检测机,适用于中大型样品的无损检测与快速筛选。
  • X射线源:单能X射线源,输出电压范围 40–160 kV,可在不同材料对比中实现灵敏度优化,具快速切换模式与脉冲式/连续模式选择。
  • 功率与稳定性:总功率 25–120 W,具温控与电流稳定性监控,长时间工作下波动极小,重复性高。
  • 探测系统:平板探测器,分辨率 2048×2048 像素,像元尺寸 127 μm,探测面积约 260×260 mm,图像清晰度与对比度在常态生产环境下稳定。
  • 视场与可选配置:基础视场 180×180 mm,扩展视场可选 320×320 mm,用以覆盖不同尺寸的样品或部件组装件。
  • 空间分辨率与对比度:空间分辨率约 0.15 mm(以像元为基准的等效分辨率),对高密度与低密度材料的对比度优化良好,微小异物也有可检测的潜在机会。
  • 成像帧率与速度:实时成像帧率高达 25 fps,短曝光时间配合高对比度算法,适合在线检测和快速筛选。
  • 样品尺寸与承载:可检测样品最大尺寸约 400 mm × 300 mm,厚度和重量取决于样品本身与检测路径,设备带有可调工作台与定位夹具。
  • 处理能力:单机可实现每小时数十至数百件级别的检测 throughput,适配中等规模生产线的日常质控节拍。
  • 数据接口与软件:支持以太网、USB3.0、PCIe等常用接口,配备自研图像处理软件,提供实时成像、自动缺陷标注、比对分析、DICOM/TIFF/PNG导出等功能。
  • 软件功能:自动曝光优化、对比度增强、边缘检测、区域分割、统计报告生成与可追溯数据日志,兼容常见工业标准与实验室数据管理流程。
  • 环境与维护:工作环境温度 15–30°C,相对湿度 20–80%,具防尘和防辐射设计,日常维护包括探测器清洁、辐射源安全检查与软件升级。
  • 安全与认证:全封闭屏蔽结构、双门联动及急停保护,符合地方放射防护与设备安全标准,提供合规文档与质保服务。

H2 应用场景与优势


  • 行业场景:在药品包装、电子元件、塑料制品、食品包装等领域开展异物检测与质量控制,能快速识别金属粒、玻璃碎片、塑料杂质及夹层缺陷等。
  • 优势要点:在不破坏样品的前提下实现高对比成像,帮助实验室和生产线迅速定位异物位置与类型;可按材料密度差异自适应曝光,降低重复曝光,提升通量与稳定性。
  • 集成与扩展性:支持与PLC、MES、WMS等工控系统对接,便于建立整线数据采集与质量追溯;模块化设计方便后续升级(视场、探测器等选项)。
  • 数据与合规性:导出标准格式报告,保留检测过程影像和参数日志,便于追溯与合规审查。

H2 维护与服务


  • 安装与培训:提供现场勘察、安装调试、操作培训与初期工艺优化,帮助用户快速进入稳定运行阶段。
  • 维保服务:提供定期维护、软件升级、替换件供应和远程诊断支持,按合同约定及时响应。
  • 保修与备件:设备核心部件如X射线源、探测器等享有一定质保期,常备备件库存,保障运行时间。

H2 场景化FAQ


  • 场景一:药品包装线上快速筛选异物,ZK-X4015 能否实现每日多批次检测?可以。设备具备高帧率实时成像与自动缺陷标注,结合批次管理日志,能在每批次中快速筛选潜在异物,输出合格/不合格清单。
  • 场景二:不同材质的异物检测灵敏度如何?X射线能量可调,系统通过曝光参数和对比度增强算法自适应不同材料密度差,金属、玻璃、塑料等常见异物都能获得有效对比。
  • 场景三:如何实现与现有产线的对接?设备提供以太网/USB3.0/PCIe等接口,软件支持 DICOM、TIFF、PNG 导出,且可配合 PLC/MES 接口实现数据流通和报表自动化。
  • 场景四:日常维护需要做哪些?定期清洁探测器表面、检查防护屏与联锁系统、验证辐射安全参数、更新软件版本,并记录维护日志以便追溯。
  • 场景五:数据安全与合规性如何保障?所有检测数据和图像可本地存储并支持云端备份,系统日志、访问控制和加密传输符合行业标准,便于审计与合规检查。

综合来说,ZK-X4015 以高稳定性、灵活配置和完整的软件生态,成为实验室、研发团队及工业线上的一体化X射线异物检测解决方案。通过可调能量、高清探测、快速成像与可追溯的数据管理,帮助用户在不同材料和场景中实现检测与持续改进。若需要进一步参数对比、现场演示或定制化方案,请联系中科微纳的技术销售团队获取专属方案。


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