奥影AI-1000是针对实验室、科研及中小规模工业检测设计的桌面型微焦点X射线检测仪,聚焦中小尺寸样品(最大φ100mm×h80mm)的内部结构表征与缺陷检测,集成AI智能识别、高分辨率成像与低剂量防护技术,无需复杂场地改造即可部署,兼具专业性能与便携性。
AI辅助缺陷智能识别
内置针对电子、材料领域的12种常见缺陷(气孔、裂纹、分层、BGA焊点空洞、PCB短路/开路等)的深度学习模型,标准样品识别准确率≥98%;单样品缺陷检测时间≤10s,较人工检测效率提升3~5倍;支持缺陷类型自定义训练,适配特殊样品需求。
高空间分辨率成像
采用130万像素CMOS平板探测器(像素尺寸48μm),配合≤5μm微焦点X射线源,线对测试卡分辨率≤5μm,最小可检测内部缺陷尺寸≤3μm,满足电子封装、陶瓷材料等高精度检测需求。
低剂量安全防护
X射线管电压20~160kV、管电流0~100μA,距仪器表面10cm处剂量率≤1μSv/h,符合IEC 61010-2-041安全标准,无需额外屏蔽房,实验室人员可安全操作。
紧凑集成化设计
整机尺寸580×480×390mm,重量仅42kg,无需水冷系统;样品台支持自动XY轴移动(行程±50mm)与旋转(0~360°),满足多角度成像需求。
实时图像分析功能
帧速率≥15fps,支持实时图像增强(对比度拉伸、滤波)、伪彩色映射;内置图像测量工具(长度、角度、面积、空洞率计算),可直接输出符合IPC-A-610等行业标准的检测报告。
奥影AI-1000通过平衡高分辨率、智能效率与便携性,解决了传统大型X射线仪场地要求高、成本高的痛点,成为实验室研发、中小规模工业质量控制的实用工具,尤其适合对精度与效率有双重要求的检测场景。
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