奥影AI-1000是针对实验室、科研及中小批量工业检测场景研发的桌面型微焦点X射线无损检测设备,兼具微米级成像精度与AI智能化分析能力,可实现小尺寸样品内部结构的非破坏性可视化检测,是研发与质检环节的高效工具。
| 类别 | 具体参数 |
|---|---|
| X射线源 | 微焦点闭式靶,焦点尺寸≤5μm;管电压20~160kV,管电流0.1~100μA;最大功率16W |
| 探测器 | 非晶硅平板探测器,像素75μm×75μm;有效面积100mm×100mm;帧率≥10fps |
| 成像性能 | 空间分辨率≥1.2μm;对比度分辨率≤0.5%(@160kV,1mmAl) |
| 样品台 | 电动X/Y轴(150mm×150mm)、Z轴(50mm);旋转0~360°、倾斜±45° |
| 辐射安全 | 符合GB 7467-2011,距设备10cm处剂量率≤0.5μSv/h |
| 软件功能 | AI缺陷识别(半导体/电池类)、图像增强(滤波/锐化)、3D重构(可选)、DICOM导出 |
| 机械规格 | 主机450×500×600mm(长×宽×高),重量≤80kg(不含附件) |
微米级成像精度
≤5μm焦点尺寸配合高灵敏度平板探测器,可清晰呈现半导体芯片内部导线、锂电池极片孔隙等微米级结构,满足科研级表征需求。
AI辅助检测提效
内置预训练缺陷模型(支持半导体开路/短路、电池隔膜褶皱等),自动标记缺陷,检测速度较人工提升3~5倍,降低误判率。
桌面级便携适配
紧凑设计适配实验室工作台,无需额外空间;开机10分钟内可启动检测,支持快速样品切换,适合小批量多品种检测。
低辐射安全设计
铅屏蔽+多层防护结构,日常操作无需额外辐射防护设施;符合工业无损检测辐射安全规范,对操作人员友好。
奥影AI-1000通过平衡高分辨率、智能化与便携性,适配大多数小尺寸样品的无损检测需求,可有效降低样品破坏率,提升研发与质检效率,是实验室及中小批量检测场景的实用工具。
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