背向光散射探测技术
适用于检测宽泛的样品粒度
产品介绍
BeNano 180 纳米粒度分析仪是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向 173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相曲线，结合数学方法就可以得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯-爱因斯坦方程就得到样品的粒度结果。
基本性能指标
粒径检测
? 粒径范围：0.3 nm–10 μm
? 最小样品量：40 μL
? 检测角度：173°
? 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS
分子量测试
分子量范围：342 Da – 2 x 107 Da
微流变测试
测试能力：均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量
趋势测试
模式：时间和温度
系统参数
? 温控范围：-15°C - 120°C
? 冷凝控制：干燥空气或者氮气
? 标准激光光源：50 mW 高性能固体激光器， 671nm
? 相关器：快、中、慢多模式，最快25ns采样，最多4000通道，1011动态线性范围
? 检测器：APD（高性能雪崩光电二极管）
? 光强控制：0.0001% - 100%，手动或者自动
检测参数
? 流体力学尺寸 Dh
? 分布系数 PD.I
? 扩散系数 D
? 颗粒间相互作用力因子kd
? 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布
? 计算分子量
? 溶液粘度和折射率
? 流变学信息G*，G‘，G“，η*，J
检测技术
? 动态光散射
? 静态光散射
选配件
? 动静态流动模式
BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。
? 0°光电模块
0°PD+CMOS模块，分散液折射率，沉降法粒度和颗粒物浓度测试。
丹东百特仪器有限公司是中国著名的粒度仪器制造企业，主要产品是激光粒度分析仪、纳米粒度及Zeta电位分析仪、显微图像粒度粒形分析仪等。产品销售到全国34个省市区，还出口到美国、德国、韩国、日本、巴西、俄罗斯等92个国家和地区，性能指标达到国际一流水平。百特的目标是“造精品仪器，创国际品牌，做百年企业”，在此基础上为用户创造最大价值。
网址：http://www.bettersize.com
电话：400-655-8837
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