inTEST 安全芯片高低温冲击测试
inTEST 安全芯片高低温冲击测试
上海伯东美国 inTEST 冷热冲击机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等测试机联用, 进行安全芯片的高低温冲击测试. 实时监测安全芯片的真实温度，可随时调整冲击气流, 对测试机平台 load board 上的安全芯片进行快速温度循环冲击, 传统高低温箱无法针对此类测试.
安全芯片多用于银卡, 门禁卡及物联网中, 由于受到工作空间狭小, 芯片接触面积小, 空气流通环境差, 散热的条件不好等影响,芯片表面可能会经历快速升温, 并且需要在高温的环境中长时间工作; 同时实验室也会搜集一些芯片的高低温运行的数据做留存资料.所以测试安全芯片在快速变温过程中的稳定性十分必要.
上海伯东安全芯片高低温测试客户案例:某半导体公司,安全芯片测试温度要求 ﹣40℃～105℃, 选用 InTEST ATS-545 与泰瑞达测试机联用, 对安全芯片进行快速冷热冲击, 设置 12组不同形式的循环温度设定,快速得到完整精确的数据.
示意图
inTEST ThermoStream ATS-545 技术参数:
型号 | 温度范围 °C | * 变温速率 | 输出气流量 | 温度 | 温度显示 | 温度 |
ATS-545 | -75 至 + 225(50 HZ) | -55至 +125°C | 4 至 18 scfm | ±1℃ | ±0.1℃ | T或K型 |
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