-
-
inTEST 热流仪,高低温冲击测试,ATS-750
- 品牌:美国inTEST- Temptronic
- 型号: ATS-750
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 伯东企业(上海)有限公司 更新时间:2024-03-27 15:06:09
-
企业性质授权代理商
入驻年限第10年
营业执照已审核
- 同类产品美国 inTEST 高低温测试机(10件)
- 标签: inTEST ATS-730 热流仪 热流罩 高低温冲击测试
-
为您推荐
- inTEST 热流仪,高低温冲击测试,ATS-750 核心参数
- 详细介绍
价格货期电议
高低温冲击测试机 inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-750上海伯东美国 inTEST ATS-750 高低温冲击测试机总代理! 温度冲击范围: -85°C 至 +300°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能.
inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-750 技术参数型号
温度范围 °C
输出气流量
变温速率
温度
精度温度显示
分辨率温度
传感器远程
控制ATS-750
-85至+300 50Hz
-90至+300 60Hz4 至18 scfm
1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s
+125至 -55°C 约 10 s±1℃
±0.1℃
T型或
K型
热电偶IEEE 488
RS232温度显示精度:±1°C(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (DUT 温度传感器:T型或K型热电偶)
远程接口: IEEE.488, RS232
加热盖提供局限性的温度测试环境,防止水气在DUT上凝结
手持热管也可以随意的移动到被测组件上;也可选购工作支架,省去手持的操作
LabView™驱动
CE相容 不含CFC
加热除霜快速去除制冷机内部积聚的水分
低温时热模式自动减少电力
待机时自动节省电力
提供 inTEST ATS-750-M 机械手臂版本
ATS-750-M 高低温测试机尺寸和重量:
尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
净重 236 kg, 毛重 365 kg
与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:
1. 变温速率更快
2. 温控精度:±1℃
3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试。
6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度
inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式:
上海伯东: 罗先生 台湾伯东: 王女士
T: +86-21-5046-1322 T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490 F: +886-3-567-0049
M: +86 152-0195-1076 M: +886-939-653-958
www.hakuto-china.cn www.hakuto-vacuum.com.tw伯东版权所有, 翻拷必究!
- 产品优势
- 上海伯东美国 inTEST 热流仪ATS-750 高低温冲击测试机总代理! 温度冲击范围: -85°C 至 +300°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能.
- 产品文章
- inTEST 热流仪光通信模块高低温测试
- inTEST 热流仪车规级芯片高低温冲击测试
- inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件温度
- inTEST 热流仪半导体芯片高低温测试
- inTEST 热流仪微处理器芯片高低温测试
- inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试
- inTEST 热流仪集成电路 IC 卡高低温测试
- inTEST 热流仪 PCB 板电子芯片高低温测试
- inTEST 热流仪 LED 液晶显示屏高低温测试
- inTEST 热流仪照明级大功率 LED 器件封装高低温测试
- inTEST 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试
- inTEST ECO-560 经济型高低温测试机应用于研发
- hakuto离子刻蚀机 7.5IBE 用于氮化硅刻蚀工艺研究
- 离子刻蚀机 10IBE 用于多晶黑硅损伤去除与钝化性能研究
- inTEST 热流仪时钟芯片高低温冲击测试应用
- 上海伯东美国 inTEST 热流仪通信芯片高低温冲击测试
- inTEST 热流仪用于12寸存储器芯片 MRAM 研发测试
- inTEST 热流仪存储芯片高低温冲击测试
- intest 热流仪 5G 通讯模块高低温冲击测试
- inTEST 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试
- 相关产品
最高温度: | +300 | 最低温度: | -85 |
均匀度: | ±0.1℃ |