浅谈显微硬度计在实际使用中优缺点
优点及应用
显微硬度试验是一种真正的非破坏性试验,其得到的压痕小,压入深度浅,在试件表面留下的痕迹往往是非目力所能发现的,因而适用于各种零件及成品的硬度试验。
可以测定各种原材料、毛坯、半成品的硬度,尤其是其它宏观硬度试验所无法测定的细小薄片零件和零件的特殊部位(如刃具的刀刃等),以及电镀层、氮化层、氧化层、渗碳层等表面层的硬度。
可以对一些非金属脆性材料(如陶瓷、玻璃、矿石等)及成品进行硬度测试,不易产生碎裂。
可以对试件的剖面沿试件的纵深方向按一定的间隔进行硬度测试(即称为硬度梯度的测试),以判定电镀、氮化、氧化或渗碳层等的厚度。
可通过显微硬度试验间接地得到材料的一些其它性能。如材料的磨损系数、建筑材料中混凝土的结合力、瓷器的强度等。
所得压痕为棱形,轮廓清楚,其对角线长度的测量精度高。
缺点
试件尺寸不可太大;如要知道材料或零件的硬度,则必须对试件进行多点硬度试验。对试件的表面质量要求较高,尤其是要求表面粗糙度要在RA0.05以上。
对测试人员必须进行一定的训练。以保证测试人员的瞄准精度。 对环境要求高,尤其是要求有严格的防振措施。
显微硬度测试要点
显微硬度测量的准确程度与金相样品的表面质量有关,需经过磨光、抛光、浸蚀,以显示欲评定的组织。
试样的表面状态:被评定试样的表面状态直接影响测试结果的可靠性。用机械方法制备的金相磨面,由于抛光时表层微量的范性变形,引起加工硬化,或者磨面表层由于形成氧化膜,因此所测得的显微硬度值较电解抛光磨面测得的显微硬度值高。试样采用电解抛光,经适度浸蚀后立即测定显微硬度。
选择正确的加载部位:压痕过分与晶界接近,或者延至晶界以外,那么测量结果会受到晶界或相邻第二相影响;如被测晶粒薄,压痕陷入下部晶粒,也将产生同样的影响。为了获得正确的显微硬度值,规定压痕位置距晶界至少一个压痕对角线长度,晶粒厚度至少10倍于压痕深度。为此,在选择测量对象时应取较大截面的晶粒,因为较小截面的晶粒其厚度有可能是较薄。
测量压痕尺度时压痕象的调焦:在光学显微镜下所测得压痕对角线值与成像条件有关。孔径光栏减小,基体与压痕的衬度提高,压痕边缘渐趋清晰。一般认为:*的孔径光栏位置是使压痕的四个角变成黑暗,而四个棱边清晰。对同一组测量数据,为获得一致的成像条件,应使孔径光栏保持相同数值。
试验负荷:为保证测量的准确度,试验负荷在原则上应尽可能大,且压痕大小必须与晶粒大小成一定比例。特别在测定软基体上硬质点的硬度时,被测质点截面直径必须四倍于压痕对角线长,否则硬质点可能被压通,使基体性能影响测量数据。此外在测定脆性质点时,高负荷可能出现“压碎”现象。角上有裂纹的压痕表明负荷已超出材料的断裂强度,因而获得的硬度值是错误的,这时需调整负荷重新测量。
压痕的弹性回复:对金刚石压头施一定负荷的力压入材料表面,表面将留下一个压痕,当负荷去除后,压痕将因金属的弹性回复而稍微缩小。弹性回复是金属的一种性质,它与金属的种类有关,而与产生压痕的荷重无关。就是说不管荷重如何,压痕大小如何,弹性回复几乎是一个定值。因此,当荷重小时,压痕很小,而压痕因弹性回复而收缩的比例就比较大,根据回复后压痕尺寸求得的显微硬度值则比较高。这种现象的存在,使得不同荷重下测得的硬度值缺乏正确的比较标准,因此有必要建立显微硬度值的比较标准。
全部评论(0条)
推荐阅读
-
- 显微硬度计原理
- 硬度测试是评估材料力学性能的重要手段之一,显微硬度计通过特定的物理原理,能够在微观层面上对材料进行精确测量,为材料科学、工程应用及质量控制提供重要数据。本文将详细解析显微硬度计的工作原理、构成以及应用领域,帮助读者更好地理解这一高精度仪器在现代工业中的重要性。
-
- 维氏显微硬度计选型
- 而在众多硬度测试仪器中,维氏显微硬度计因其优异的精度和广泛的适用性而成为实验室常用的工具。本文将深入分析如何选型维氏显微硬度计,从多个维度探讨不同型号之间的差异,以帮助用户根据实际需求选择合适的设备。文章将从硬度计的功能特点、性能指标、应用场景等方面展开,为相关行业的技术人员提供实用参考。
-
- 锂离子电池多项材料检测,一台显微硬度计就能搞定?
- 关注科学前沿,探索材料发展
-
- 显微拉曼光谱技术在颗粒物检测中推本溯源
- 针对制药领域颗粒物检测开发中显微拉曼光谱技术存在的挑战,长光辰英为您定制MicroRaman颗粒物检测解决方案。
-
- 布鲁克显微红外技术在制药行业中的应用
- 显微红外技术在药片、颗粒、组织切片中的应用非常**,例如药品夹杂物的分析、液体药物颗粒的分析、中药材组织切片中相关性分析等。
-
- 分析不同保温材料在恒温恒湿机中的优缺点
- 本文详细分析了多种常用于恒温恒湿机的保温材料,包括聚氨酯泡沫、聚苯乙烯泡沫、岩棉、玻璃棉等的优缺点。
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
参与评论
登录后参与评论