介质损耗测试仪 莱恩德 介电常数及介质损耗测定仪LD-JD1参数

莱恩德LD-JD1介质损耗测试仪，是面向实验室、科研机构以及电子、材料行业现场的多场景介质表征仪器，能够快速、稳定地获取介电常数ε'与介质损耗因子tanδ等关键参数。通过开放端、同轴探头等多种探头组合，LD-JD1在液体、固体、薄膜及涂层材料中提供一致性较高的测量结果，适配从研发到生产的全链路测试需求。

参数与型号一览

• 频率范围：100 kHz–3 GHz，覆盖常用介电谱段，支持对材料在工作频段的损耗行为进行定量分析。
• 测量量纲：ε'（介电常数）、tanδ（损耗角正切），可同时输出复介电常数于拟合结果中。
• 测量精度：ε'±0.5%（典型环境下），tanδ ±0.01（在中等损耗区）。
• 探头类型：开放端探头、同轴探头、液体接口探头，可按样品形式切换，确保不同介质的耦合效率。
• 样品适用性：固体、液体、薄膜、颗粒分散体系，以及涂覆材料的快速表征。
• 测量模式：单点/多点测量、频率扫描、温度补偿，支持拟合模型输出复杂介电常数。
• 数据接口：USB、以太网（LAN）、RS-232，便于嵌入实验室数据网络。
• 数据输出：CSV、XLSX、TXT，便于LIMS和实验报告自动化接入。
• 软件与界面：Windows桌面应用，图形化波形与拟合曲线显示，自动标定、批量测量脚本、报告模板。
• 标定与校准：开放/短路/负载三点标定，支持自动标定流程，减少人为误差。
• 电源与环境：100–240 VAC，50/60 Hz，工作温度5–40°C，存储-20–60°C，功耗一般小于20 W。
• 尺寸与重量：约320×260×100 mm，重量约4.5 kg，便于桌面布置与现场移运。
• 认证与保修：CE、RoHS认证，标准保修期24个月，提供在用工艺的技术支持与远程诊断。
• 选型要点：经典版（LD-JD1-标准）、便携版（更小重量/机动性）、高端版（更高灵敏度与温控范围），三者在探头兼容性与频率内核上保持一致，核心指标互通。

LD-JD1型号与特点对比（要点式）

• LD-JD1标准版：核心频率覆盖全域，适用于大多数材料的介电测定，性价比高，配套完整的软件与标定流程，适合日常实验室使用。
• LD-JD1便携版：优化重量与体积，辅以简化操作界面，现场测量与快速筛选场景更具灵活性，仍保留完整的数据导出通道。
• LD-JD1高端版：在温度控制、稳定性与低噪声通道方面进一步增强，适用于对损耗极小样品或极高频段需求的研究场景，提供扩展探头方案与更高分辨率的拟合结果。

场景化应用要点

• 研发实验室：在材料研发初期快速评估介电特性，利用频率扫描获得ε'与tanδ的谱线，辅助材料配方设计与工艺参数优化。
• 电子元器件测定：对绝缘涂层、封装材料进行介电稳定性评估，跟踪湿热、湿度等环境变量对损耗的影响，确保可靠性与寿命预测。
• 涂层与绝缘材料测量：对于涂覆型介质，使用液体接口探头对薄膜层进行界面耦合分析，获得厚度变化对介电响应的影响。
• 生产现场质量控制：通过批量测量实现过程能耗与材料一致性监控，导出标准化报告，便于持续改进。

场景化FAQ

• LD-JD1能否用于液体介质测量？可以。使用专用液体接口探头，配合标定流程即可获得稳定的ε'与tanδ，尤其适用于电解质、有机溶剂与水基体系的快速表征。
• 如何选择探头？若样品为固体薄膜，优先选择同轴探头或开放端探头；若样品为高粘液或需要深层耦合，液体接口探头能提升耦合效率与重复性。现场可按样品形态切换，避免二次污染与耦合误差。
• 测量误差的主要来源？来自探头与样品界面耦合、温度波动、对比样品的标定偏差，以及封装电路的噪声。通过三点标定、环境控温和多点取样可显著降低误差。
• 如何进行标定？先进行开放端标定清空后进行短路与负载标定，接着进行系统自检，最后进行样品测量。建议在每批次开始前执行一次全标定，以确保一致性。
• 数据导出能对接实验室信息系统吗？可以。导出CSV/XLSX格式数据，方便在LIMS或实验报告模板中嵌入，软件支持批量导出与自定义字段。
• 日常维护要点？保持探头清洁、避免强化学品腐蚀、定期检验探头耦合面，确保接口干净；软件定期升级以获得最新拟合模型与报告模板。
• 保修与售后？标准24个月保修，故障诊断支持可通过远程协助与现场服务组合，训练课程与技术资料随器材提供。

总览而言，莱恩德LD-JD1介质损耗测试仪以高稳定性、易用性和广泛的材料适应性，成为实验室到生产线的快速介电特性表征解决方案。丰富的参数、清晰的数据输出以及灵活的探头选择，使其在介电材料研究与应用开发中具备较强的现实价值与可追溯性。