介质损耗测试仪 莱恩德 介电常数及介质损耗测定仪LD-JD1特点

莱恩德 LD-JD1 介质损耗测试仪是一款面向实验室、科研以及工业现场的专用测量设备，聚焦对介电常数ε'与介质损耗因子tanδ的快速、稳定测定。围绕材料表征、工艺评估与质量控制的实际需求而设计，LD-JD1以高精度、强兼容性和易于集成的数据输出能力著称，适用于电子封装材料、薄膜涂层、陶瓷与聚合物等多种介质。

核心参数与性能要点

• 测量对象：固体材料、薄膜、涂层、液体等，配备可更换的电极夹具以实现多样化样品接触。
• 频率范围：1 kHz–1 MHz，覆盖常见材料的极化与损耗特性区间，支持在不同测试条件下对比分析。
• ε'测量范围：2–1000，适应从低介电常数到高介电材料的需求。
• tanδ测量范围：0.0001–0.5，能捕捉微量耗散与材料损耗峰值。
• 测量精度：ε'约±0.5%+0.02，tanδ约±5%读数加上0.0001的基线误差，重复性良好。
• 分辨率：ε'0.01、tanδ0.0001，帮助区分近似材料参数的细微差异。
• 测试电压：可设定的工作电压范围内进行测量，确保在样品安全和信号灵敏度之间取得平衡。
• 温湿度环境：工作温度0–50°C，非冷凝条件下相对湿度20–80%，有环境补偿选项以减小样品温度效应影响。
• 电源与接口：100–240 VAC，50/60 Hz，USB、以太网（LAN）和/或RS-232等多接口，便于数据接入与上机自动化。
• 数据管理：内置测试数据存储，支持CSV/XLSX导出，便于后续统计分析和材料数据库对比。
• 尺寸与重量：实体机身紧凑，适合台式工作台放置，辅助夹具与探头组合后总体重量保持在可搬运范围内。
• 保护与耐用性：体机金属外壳，防护等级设计考虑日常实验室和现场使用环境，配套探头与夹具具备耐久性与重复对位能力。

产品特点与优势

• 高精度测量与稳定性：以高质量前端电极与低噪声信号链路实现稳定的ε'与tanδ读数，减少环境扰动对结果的影响。
• 广泛材料兼容性：对固态、液态以及薄膜材料的介电响应均有良好识别，配备多种电极配置，适应不同样品几何与厚度。
• 快速数据与自动化协同：单点测量在数十秒级别完成，支持批量测样与队列测试，便于产线或制程中的快速筛选。
• 温度与校准功能：集成温度补偿算法，必要时可执行内置自校准，确保跨批次的可重复性。
• 易于集成的接口：丰富的数据接口与可导出格式，便于与实验室信息管理系统（LIMS）或自建数据库对接。
• 用户友好性与现场执行力：直观的操作界面、清晰的状态指示与稳健的机械结构，减少操作培训成本。
• 数据追溯与合规性支持：测试报告可快速生成，字段化参数便于溯源和质量分析，符合常见材料表征流程。

典型应用场景

• 微电子封装材料：评估介质常数与损耗对信号完整性、封装可靠性的影响，辅助材料选型与工艺优化。
• 薄膜与涂层材料：对涂层厚度、均匀性与介质耗散特征的定量分析，帮助改进涂覆工艺。
• 高介电材料与陶瓷：在能量存储元件与传感器件中获取关键电气参数，支撑性能评估与可靠性分析。
• 聚合物与复合材料：比较不同配方及填料对介电响应的影响，推动材料开发与性能调控。
• 液体介质与电介质液晶：通过合适的夹具实现体积与表面效应的耦合测量，辅助选型与工艺设计。

数据表格化要点（参数字段示例，实际以出厂手册为准）

• 型号：LD-JD1
• 测量对象类型：固态/液态/薄膜
• 频率范围：1 kHz–1 MHz
• ε'测量范围：2–1000
• tanδ测量范围：0.0001–0.5
• 测量精度：ε'±0.5%+0.02，tanδ±5%读数+0.0001
• 分辨率：ε'0.01，tanδ0.0001
• 测试电压：可调，常用工作区间具体以型号参数为准
• 温度范围：0–50°C（工作），非冷凝条件
• 相对湿度范围：20–80%
• 电源：100–240 VAC，50/60 Hz
• 数据接口：USB、LAN、RS-232
• 数据输出格式：CSV、XLSX
• 内部存储容量：测试记录数量（按出厂规格）
• 外形尺寸（长×宽×高）：约毫米级别的外部尺寸区间
• 重量：若干公斤级别
• 主要配件：专用电极夹具、探头、连接线、用户手册

场景化FAQ

• LD-JD1 可以测哪些样品？可以对固体块材、薄膜涂层、液体介质及复合材料进行测量，但需选用合适的电极夹具与样品制备方式，确保电场能均匀分布在待测介质中。
• 如何获得可靠的ε'与tanδ？请在测量前进行样品预热或温度稳态处理，确保测试环境的温湿度稳定，并使用推荐的电极夹具对样品进行均匀接触，必要时进行温度补偿。
• 需要多久完成一次校准？建议在每日开机后进行一次自检或按生产商建议进行定期校准，尤其是在更换电极、频段切换或环境条件变化后。
• 能否并行测量多个样品？LD-JD1 支持批量测试队列与自动化数据导出，适合制程端的快速筛选与材料库对比分析。
• 如何导出与分析数据？支持CSV/XLSX导出，结合实验室信息管理系统可实现自动化数据归档和趋势分析；也可把数据直接接入统计软件进行进一步处理。
• 现场使用需要注意哪些安全要点？请按厂家手册使用，避免超出额定测试电压与环境条件，夹具与探头在非工作时段保持固定与保护，避免跌落和高温暴露。
• 维持与保养的关键步骤？定期清洁探头和夹具接触面，检查连接线与接口的磨损情况，存放在防尘防潮的环境中，避免强烈冲击。
• LD-JD1 是否支持自定义测试工艺？在可扩展的固件和软件模块内，通常支持自定义测试序列、队列任务及报告模板，便于不同材料与工艺的复现性测试。
• 使用中遇到异常怎么办？先排查电极接触是否良好、样品制备是否符合规格，以及环境温度是否稳定；若仍无法解决，联系厂商技术支持获取远程诊断或现场服务。

LD-JD1 介质损耗与介电常数测定仪以其广泛的测量范围、稳定的重复性和灵活的数据输出能力，成为实验室研究到工业生产中对材料介电性能评价的可靠伙伴。结合多种电极配置与场景化应用，能够在材料选型、工艺优化与质量控制链路中提供明确、可比的电气参数，为材料开发与工艺改进提供落地依据。