电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)是元素分析领域的核心工具,赛默飞世尔科技推出的iCAP PRO X ICP-OES针对复杂基体、痕量元素及多元素同时分析需求,实现了技术突破。本文结合其核心技术、关键参数及应用场景,为实验室、科研及工业检测从业者提供专业参考。
iCAP PRO X通过硬件优化与算法升级,解决了传统ICP-OES在复杂基体干扰、痕量检出限及分析效率上的痛点:
| 参数项 | 技术指标 |
|---|---|
| 波长范围 | 165.0-800.0nm |
| 分辨率 | ≤0.008nm(200nm);≤0.015nm(400nm) |
| RF功率 | 750-1600W(步进1W) |
| 检出限(ng/L,典型) | Cd<0.005;Pb<0.01;As<0.02;Cu<0.05 |
| 耐盐度(w/v) | 径向>20%;轴向>5% |
| 进样精度(RSD) | <0.5%(n=10,100μg/L多元素标液) |
| 分析速度 | <30s/样品(10个元素) |
iCAP PRO X适配多行业复杂样品分析需求:
总结:赛默飞iCAP PRO X ICP-OES通过硬件与软件的协同优化,在痕量检出限、复杂基体耐受性及分析效率上具备显著优势,是实验室、科研及工业检测领域元素分析的可靠工具。
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