赛默飞iCAP PRO系列搭载TrueCurve双向观测技术(垂直+水平等离子体观测),针对不同元素特性优化观测方式:低痕量元素(如As、Hg)采用水平观测提升灵敏度,高浓度元素(如Na、K)采用垂直观测抑制基体干扰,无需切换模式即可实现全浓度范围精准分析。
同时配备固态分段电荷检测器(SCD),替代传统PMT检测器,具备无死时间、全波长同步检测能力,可同时覆盖165-800nm波长区间(包含紫外区As、Se等关键元素),光谱干扰分离效率提升40%以上。
| 参数维度 | 具体指标(典型值) |
|---|---|
| 波长覆盖 | 165-800nm(全元素分析无盲区) |
| 分辨率 | <0.008nm(FWHM,200nm处,分离Fe/Mn干扰) |
| 检出限(μg/L) | Na<0.002、As<0.01、Hg<0.005、Pb<0.003 |
| 动态范围 | 7-9个数量级(1μg/L至1000mg/L,无需稀释) |
| 分析速度 | 20元素同时分析<30秒/样品(高通量适配) |
| RF发生器 | 固态27.12MHz,功率1000-1600W,稳定性±0.1% |
| 雾化效率 | 旋流雾化器+双通道雾室,达15%以上(提升30%) |
软件端搭载Qtegra智能分析平台,符合21 CFR Part 11数据合规要求,支持方法审计追踪;前处理兼容微波消解、酸消解等主流方式;维护环节采用雾化器自清洗技术,RF发生器无耗材,年维护成本降低25%以上。
作为ICP-OES领域的成熟机型,赛默飞iCAP PRO系列凭借“精准、高效、适配广”的特点,成为实验室从痕量到常量分析的核心工具,尤其适合对数据可靠性有严格要求的行业场景。
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