清洁度衰减实验操作流程
一、实验准备
设备与材料
清洁度检测设备(含萃取装置、过滤系统、显微镜、天平)、烘箱、干燥器、滤膜(需预先恒重处理)。
清洗剂(如去离子水或指定溶剂)、待测样品(需性能稳定)。
参数设定
确定清洗参数:清洗压力、喷射角度、清洗剂用量(如1L/次)。
二、实验步骤
样品预处理
将滤膜浸入清洗液后烘干(90±5℃, 30分钟),冷却并称重初始质量(G1)。
样品表面无明显污染,需符合检测前状态要求。
连续萃取清洗
首次清洗:使用设定参数对样品进行清洗,收集滤液并过滤,记录颗粒数量或重量。
重复清洗:同一样品连续清洗6次,每次均更换新滤膜并记录数据(颗粒数或重量G2)。
数据记录与分析
计算每次清洗的颗粒占比:
单次颗粒数 / 总颗粒数 ≤10% 或 单次重量(G2-G1) / 总重量 ≤10%。
若第n次数据满足上述条件(通常为第3–4次),判定参数合理;否则需调整参数重新实验。
三、验证与优化
参数验证
通过实验的清洗参数需重复验证3次,确保结果一致性。
工艺固化
符合衰减标准(≤10%)的参数纳入正式清洗工艺,用于后续生产检测。

关键注意事项
滤膜恒重:前后烘干条件需完全一致(温度、时间)。
设备校准:天平精度需达0.1mg,显微镜需定期校验颗粒识别功能。
环境控制:实验室温湿度稳定,避免外部污染干扰数据。
流程图示例

开始
↓
选择清洗方法和参数
↓
准备同一件样件
↓
对样件进行第1次清洗,记录颗粒数量
↓
对样件进行第2次清洗,记录颗粒数量
↓
...(重复清洗和记录,直到第6次)
↓
计算每次清洗得到的颗粒数据与所得颗粒总和的比值
↓
判断是否有任意一次的比值小于0.1(或10%,根据标准不同)
↓
是 → 清洗方法符合要求,确定清洗参数
↓
否 → 更改清洗方法和参数,重复实验
↓
结束
以上流程综合了ISO16232/VDA19标准的核心要求,通过多轮清洗和严格的数据分析确保萃取方法的有效性。
如有更多疑问可以联系捷布鲁专家团队:189-6156-0696.
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