日置阻抗分析仪IM3570规格及参数
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LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下Z快1.5ms(1kHz)，0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
● 搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量
基本参数
以上就是日置阻抗分析仪IM3570的规格参数，如您使用中还有其他问题，欢迎登录西安安泰测试https://www.agitek.cn
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