在众多涉及薄膜材料的行业中,如包装、电子、新能源等,薄膜厚度的精确测量对产品质量把控起着关键作用。薄膜厚度的均匀性与准确性直接关联产品的性能、使用寿命以及安全性。机械接触式薄膜测厚仪凭借其独特优势,成为广泛应用的厚度测量设备。
一、机械接触式薄膜测厚仪检测方法
(一)工作原理
机械接触式薄膜测厚仪主要基于接触测量原理运作。仪器配备高精度的测量头,在测量时,测量头缓缓下降与薄膜表面接触,并施加一个恒定、精准的压力。在这一压力作用下,薄膜表面产生微小形变,测量头随之产生位移。通过高精密的位移传感器,仪器能够精准记录测量头的位移量,而这一位移量恰好等同于薄膜在压力下的形变量,经系统计算,即可得出薄膜的厚度值 。例如在塑料薄膜检测中,常见的面接触式探头,其与薄膜的接触面积是固定的,配合稳定的压力施加系统,确保每次测量条件一致,极大提升测量结果的准确性与重复性。
(二)操作流程
样品准备:从待检测的薄膜卷材或片材中,依据相关标准,裁剪出尺寸合适的试样。试样应保持表面平整,无褶皱、划伤、杂质附着等情况,避免影响测量精度。如检测食品包装用塑料薄膜,通常将试样裁剪成长宽约 50mm×50mm 的正方形。
仪器校准:在正式测量前,需使用标准厚度的校准片对测厚仪进行校准。将校准片放置在测量平台上,启动测厚仪,测量头与校准片接触,仪器自动读取并记录校准片厚度数据,与已知的校准片标准厚度对比,对测量误差进行修正,确保后续测量的准确性。
固定试样:把准备好的试样平稳放置在测厚仪的测量平台上,使用配套的夹具将试样固定牢固,防止在测量过程中试样发生位移、滑动等情况,影响测量结果。
接触测量:开启测厚仪,测量头在传动装置带动下,按照设定速度自动下降与试样表面接触,并施加标准规定压力,一般压力范围控制在 17.5±1kPa。测量头依据试样厚度产生相应位移,位移数据被传感器实时采集。
数据读取与记录:测厚仪内部的数据处理系统对传感器采集到的位移数据进行运算,得出薄膜厚度值,并在显示屏上清晰显示。操作人员读取数据后,将其准确记录在专用的数据记录表中。为保证数据代表性,通常在同一试样上选取多个测量点进行测量,取平均值作为该试样的最终厚度值 。

二、山东泉科瑞达仪器推荐 ——CHY - 02H 薄膜测厚仪
(一)仪器特性
超高精度测量:CHY - 02H 采用国际品牌高精度位移传感器,分辨率高达 0.1μm,能精准捕捉薄膜厚度的细微变化。
稳定性与重复性卓越:通过科学、稳固的结构设计以及高精测控技术,有效减少外界干扰对测量结果的影响,实现接触式厚度测试的高稳定性与重复性,。
智能化操作体验:配备 7 寸大触控屏,操作界面简洁直观。
强大的数据处理功能:支持多级用户权限管理,保障数据安全。可对历史测试数据进行便捷查询与导出,方便数据追溯与分析。
(二)应用领域
包装行业:适用于塑料薄膜、薄片、药用复合硬片等包装材料的厚度检测,确保包装材料厚度符合相关标准,保障产品包装质量,满足 ISO 4591 等国际标准对包装材料厚度测量的要求。例如在药品包装中,准确控制药用复合硬片厚度,避免因厚度不均导致阻隔性能缺陷,影响药品质量与保质期。
电子行业:可用于电容器薄膜、半导体生产中的硅片、金属片等材料的厚度测量。在电容器薄膜生产中,精确控制薄膜厚度,有助于提升电容器的性能与稳定性。
新能源行业:在锂电池隔膜生产中,通过检测隔膜厚度均匀性,确保电池的安全性、能量密度及循环寿命。CHY - 02H 能快速完成整卷隔膜关键区域检测,生成厚度分布图,快速定位厚度异常点,为生产工艺优化提供数据支持。
山东泉科瑞达的 CHY - 02H 薄膜测厚仪,凭借在机械接触式测量方法上的深度应用与创新,以其卓越的性能,成为众多行业进行薄膜厚度精确测量的得力工具,助力企业提升产品质量,推动行业高质量发展。
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