Thermo Scientific™ ARL™ EQUINOX Pro立式X 射线衍射仪参数

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仪器定位与核心价值

Thermo Scientific™ ARL™ EQUINOX Pro立式X射线衍射仪（XRD）是针对多场景材料表征需求开发的高性能分析工具，融合高分辨率、快速采集与自动化能力，适配实验室基础研究、工业质量控制、地质检测等领域，平衡了科研精度与工业效率。

核心技术特点

1. 高稳定性X射线源
   采用陶瓷密封X射线管替代传统玻璃管，热漂移量降低60%以上，连续工作寿命超10000小时，保障长期数据一致性；可选Cu/Co/Fe/Ni阳极靶，满足不同样品（如含铁样品需Co靶）的衍射分析需求。

2. 高精度θ-θ测角仪
   立式配置（样品固定、探测器/光源同步转动）避免样品台倾斜误差，搭配高精度伺服电机，角度重复精度达±0.0001°2θ，峰位重复性优于0.001°2θ，适配低角度衍射（如层状材料、纳米颗粒）分析。

3. 快速数据采集能力
   标配D/teX Ultra 1D硅漂移探测器（SDD），能量分辨率≤145eV（@5.9keV），计数率≥1×10^6 cps；结合高速扫描模式，常规物相分析时间缩短至5~10分钟（传统探测器需30分钟以上），提升检测通量。

4. 自动化集成设计
   可选自动样品交换器（ASX），最大容纳20个直径25mm样品，支持无人值守批量检测；样品旋转速度0~60rpm，提升衍射峰统计均匀性，降低样品不均匀性误差。

关键技术参数

• X射线源
  类型：陶瓷密封X射线管；阳极靶：Cu/Co/Fe/Ni（可选）；最大功率：2.2kW；焦点尺寸：细焦点（1.2×10mm）、微焦点（0.4×12mm）。

• 测角仪系统
  配置：立式θ-θ；角度范围：-3°~160°2θ；角度重复精度：±0.0001°2θ；最小步长：0.0001°2θ；扫描速度：0.01°~60°2θ/min。

• 探测器
  类型：D/teX Ultra 1D SDD；能量分辨率：≤145eV（@5.9keV）；计数率：≥1×10^6 cps；有效探测面积：30mm×1mm。

• 样品系统
  标准样品台：适配25mm直径样品；自动样品交换器：可选（20样品位）；样品旋转：0~60rpm（连续可调）。

• 软件与环境
  分析软件：ARL IntelliSuite™；功能：物相定性/定量（Rietveld拟合、无标样定量）、晶粒尺寸/应变计算、数据导出；工作温度：15~35℃；湿度：≤80%（无冷凝）。

典型应用场景

• 材料科学：晶体结构解析、金属合金时效相变、陶瓷烧结物相演变；
• 工业质控：水泥原料（C3S/C2S）定量、金属涂层物相鉴定、半导体缺陷分析；
• 地质矿产：矿石物相定性（硫化矿/氧化物）、黏土矿物分析、岩石全岩表征；
• 环境监测：土壤重金属矿物态分析、大气颗粒物晶体组分鉴定。

应用优势总结

• 兼顾科研精度（低角度衍射、高分辨率）与工业效率（快速采集、自动化）；
• 核心参数覆盖宽角度范围与低计数率稳定性，适配复杂样品（如低结晶度材料）；
• 软件集成主流分析算法，兼容LAMM数据库，降低学习与操作门槛。