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• 2025-11-14 16:40发布了行业资讯

  2025半导体先进检测技术工程师培训——光学显微技术专题研修班邀请函

  半导体制造、封装测试企业的工艺工程师、质量工程师 ·精密制造、光学器件企业的检测工程师、研发工程师 ·科研院所及高校精密仪器、微纳测量研究方向人员 ·希望深入了解光学测量技术及半导体检测应用的行

  工程师 显微镜 半导体 53人看过

• 2024-07-08 16:58发布了行业资讯

  芯片开封decap简介及芯片开封在失效分析中应用案例分析

  327人看过

• 2023-11-10 15:36发布了行业资讯

  FIB-SEM方法分析BlackPad的优缺点

  124人看过

• 2023-03-07 10:31发布了行业资讯

  划片机在测高过程中发生异常如何自查

  测高系统自检故障报警（模拟测高信号无法产生）

  划片机 博捷芯划片机 665人看过

• 2022-10-08 15:41发布了行业资讯

  突发！北方华创、长江存储等31家被拉入UVL清单！

  根据美国联邦公报，拜登政府宣布了对中国获得美国半导体技术的新限制，并增加了旨在阻止中国推动发展自己的芯片产业和提升该国军事能力的措施。

  半导体技术 先导先进材料 2156人看过

• 2022-01-03 06:55发布了行业资讯

  中国500强企业，哪些半导体公司入围

  171人看过

• 2021-01-15 09:58发布了行业资讯

  光学设备供应商汇总

  2147人看过

• 2020-09-14 10:14发布了行业资讯

  北软外观检测显微镜分析

  334人看过

• 2020-09-09 15:11发布了行业资讯

  激光探针台使用及测试内容

  249人看过

• 2020-09-09 15:11发布了问答

  激光探针台使用及测试内容

  激光探针台使用及测试内容？探针台大家不陌生了，是我们半导体实验室电性能测试的常用设备，也是各大实验室的熟客。优点太多了，成本低，用途广，操作方便，对环境要求也不高，即使没有超净间，普通的坏境也可以配置，测试结果稳定，客观。深受工程师们的青睐。探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。最近北软实验室探针台再升级，趁机为大家总结一下探针台的用途，若您还有新发现，欢迎留言交流。激光探针台服务内容：1、激光打标；2、表层修复线路（利用激光将两层金属线熔融连接）；3、驱除短路点；4、激光断线；5、干扰芯片测试；除了以上几项之外激光探针台兼备常规探针台功能：1.微小连接点信号引出  2.失效分析失效确认3.FIB电路修改后电学特性确认4.晶圆可靠性验证一：手动探针台用途：手动探针台应用领域：Failure analysis  集成电路失效分析                   Wafer level  reliability晶元可靠性认证Device characterization 元器件特性量测               Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)IC Process  monitoring  制成监控                     Package part probing  IC封装阶段打线品质测试Flat panel probing 液晶面板的特性测试                PC board probing  PC主板的电性测试ESD&TDR testing    ESD和TDR测试                      Microwave  probing  微波量测(高频)Solar太阳能领域检测分析                              LED、OLED、LCD领域检测分析二：手动探针台的使用方式：1.将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。4.显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场ZX。5.待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，ZH则使用X轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。6.确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。常见故障的排除当您使用本仪器时，可能会碰到一些问题，下表列举了常见的故障及解决方法。手动探针台技术参数。

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• 2020-07-14 14:43发布了行业资讯

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• 2020-06-29 16:47发布了行业资讯

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