尊敬的各位工程师、业界同仁:
光学测量技术作为现代精密制造的核心检测手段,自17世纪显微镜发明以来,经历了从基础几何量测量到三维精密测量的重大技术变革。随着半导体技术节点的不断微缩和工艺复杂度的持续提升,光学测量技术以其非接触、高精度、高效率的特点,在半导体制造、封装测试等环节发挥着越来越重要的作用。
在当前半导体产业迈向更先进制程的背景下,光学测量技术正朝着更高精度、更快速度、更智能化方向快速发展。从传统的二维尺寸测量到如今的三维形貌分析,从单一参数检测到多参数综合测量,光学测量技术为半导体制造工艺优化和质量控制提供了强有力的技术支撑。特别是在晶圆检测、光刻套刻测量、薄膜厚度测量等关键工艺环节,光学测量技术已成为不可或缺的检测手段。
为帮助工程师系统掌握光学测量技术体系,深入了解国产高端测量设备的最新进展,本次"光学测量技术专题研修班"将全面解析光学测量技术发展历程、核心方法与应用前景,并重点介绍中图仪器在光学测量领域的创新产品与半导体行业解决方案。
一、 组织架构
·主办方:北京科技社团服务中心
·承办方:北京网络信息安全技术创新产业联盟
·协办方:国家应用软件产品质量检验检测中心
北京软件产品质量检测检验中心有限公司
中图仪器
·支持方:安芯汇测-一站式检测服务平台、国产设备推广平台
半导体工程师
二、 培训详情
·时间: 2025年11月18日(星期二) 9:00 - 12:00
·地点:北京市海淀区东北旺西路8号中关村软件园3A楼第一会议室
三、 谁能参加
·半导体制造、封装测试企业的工艺工程师、质量工程师
·精密制造、光学器件企业的检测工程师、研发工程师
·科研院所及高校精密仪器、微纳测量研究方向人员
·希望深入了解光学测量技术及半导体检测应用的行业专业人士
四、 会议议程
时间 | 环节 | 主要内容 |
9:00-9:30 | 签到交流 | 领取资料,与会者互动交流 |
9:30-9:40 | 开幕致辞 | 主办方致欢迎词 |
9:40-10:10 | 专题一:光学测量技术发展历程与核心技术体系 | - 发展里程碑:从基础光学测量到现代激光干涉测量的技术演进 |
10:10-10:40 | 专题二:现代光学测量技术现状与未来趋势 | - 技术前沿: |
10:40-11:00 | 互动交流 | 自由交流,现场答疑 |
11:00-11:30 | 专题三:中图仪器光学测量产品与半导体解决方案 | - 主流产品介绍: |
11:30-11:40 | 结业仪式 & 颁发证书 | 颁发培训结业证书 |
11:40-12:00 | 实验室参观与设备演示 | 现场观摩光学测量设备及检测演示 |
五、 颁发证书
完成全部课程的学员,将获得由北软检测颁发的 “卓越工程师”结业证书,见证您专业能力的又一次飞跃。
立即报名,掌握先进光学测量技术!
报名二维码:
联系人:陈玉祥 13823789478 赵工 13488683602
温馨提示:由于培训名额有限,为确保您的席位,请务必提前报名确认。
导航北软检测
自驾前往,地上停车场在北软检测正门向北50米处。
欢迎转发给需要了解光学测量技术的同事朋友! 共同推进半导体检测技术发展!
赵工
13488683602
zhaojh@kw.beijing.gov.cn
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