什么是四探针法？

       四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。 
       与四探针法相比，传统的二探针法更方便些，因为它只需要操作两个探针，但是处理二探针法得到的数据却很复杂。如图，电阻两端有两个探针接触，每个接触点既测量电阻两端的电流值，也测量了电阻两端的电压值。
        我们希望确定所测量的电阻器的电阻值，总电阻值：RT=V/I=2RW+2RC+RDUT；其中RW是导线电阻，RC是接触电阻，RDUT所要测量的电阻器的电阻，显然用这种方法不能确定RDUT的值。矫正的办法就是使用四点接触法，即四探针法。如图二，电流的路径与图中相同，但是测量电压使用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的电压也包含了导线电压和接触电压，但由于电压计的内阻很大，通过电压计的电流非常小，因此，导线电压与接触电压可以忽略不计，测量的电压值基本上等于电阻器两端的电压值。

 

       通过采用四探针法取代二探针法，尽管电流所走的路径是样的，但由于消除掉了寄生压降，使得测量变得jing确了。四探针法在后来，已经变得十分普及，命名为四探针法。
       HEST-800高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
    双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高jing确度，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
     HEST-800系列采用自主开发先进的电子护系统，设备的安全性；选用进口热电偶保定温度的采集有效值、采用先进的的SPWM电子升压技术，电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。
       HEST-800系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。
       高JZ度的输出与测量规格，保障检测结果的品质，适用于新材料数据的检测。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料，也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。
        针对高温四探针测试仪做了多项安全设计，测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制：当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。

产品应用
§ 应用域
§ 多晶硅材料
§ 石墨烯材料
§ 石墨功能材料
§ 半导体材料
§ 导电功能薄膜材料
§ 错类功能材料
§ 导电玻璃（ito)材料
§ 柔性透明导电薄膜
§ 其它导电材料等

系统功能 
§ 电压、电流、温度实时显示
§ 自动升压功能
§ 循环自动测试
§ 升温速度可控
§ 自动试验报表
§ 过压、过流、超温报警
§ 软件自动升
§ 试验电压、电流可调
§ 电方便更换
§ 在线设备诊断

系统特点
§ 多功能真空加热炉，体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试
§ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度，
§ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率；
§ 可实现常温、变温、恒温条件的l-V、R-T、R-t等测量功能；
§ 进口温度传感器、PlD自动温度控制，使测量温度更JZ；
§ 仪器可自动计算试样的电阻率pV；
§ 10寸进口触摸屏设计，体化设计机械结构，更加稳定、可靠；
§ 程控电子升压技术，纹波更低、TVS防护系统，保证仪器安全性；
§ 99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针； 
§ huace pro 强大的控制分析软件。