三种双扫描狭缝光束轮廓仪型号
Item # BP209-VIS(/M):200 nm - 1100 nm
Item # BP209IR1(/M):500 nm - 1700 nm
Item # BP209-IR2(/M):900 nm - 2700 nm
高精度分析近高斯光束质量
重建2D和伪3D空间功率分布
单个独立测量头
测量连续光束或≥10 Hz的脉冲光束
扫描速率从2到20 Hz
用户可校准的功率读数(请看用户手册了解校准步骤)
动态范围78 dB
低噪声放大器
USB 2.0高速接口连接PC
Thorlabs的双扫描狭缝式光束轮廓仪非常适合分析近似高斯光束的截面轮廓。可以在2 Hz到20 Hz之间的扫描速率(可以使用软件设定)下,测量光束截面中用户指定的X轴和Y轴的强度轮廓。20 Hz的高扫描速率能够实时对准光学系统。这些光束轮廓仪主要用于连续激光束,也可以采用平均法测量≥10 Hz的脉冲光束(更多信息,请看工作标签)。测量结果可用于评估光束质量、检查重建的光束轮廓以及监测长期稳定性。
所有三种双扫描狭缝式光束轮廓仪型号都有Ø9 mm输入孔径,通过连续扫描两个宽度相同且互相垂直的狭缝测量输入激光束。使用软件切换5 µm或25 µm宽的狭缝对、选择扫描狭缝或刀口工作模式、设置其它扫描选项等。有关不同狭缝宽度和工作模式的功能和用法信息,请看工作标签。
这些扫描狭缝光束轮廓仪配备低噪声电子元件,具有78 dB高动态范围,能够测量直径在2.5 µm和9 mm之间的光束。光束直径参考ISO 11146标准测量,可按照多种行业标准的限幅水平显示,比如1/e2(13.5%)、50%或用户设定的任意限幅水平值。当所测光束不具有近高斯光束形状,或者需要对脉冲光束进行单次测量,我们推荐使用我们的CMOS相机式光束轮廓仪。
Item # BP209-VIS(/M):200 nm - 1100 nm
Item # BP209IR1(/M):500 nm - 1700 nm
Item # BP209-IR2(/M):900 nm - 2700 nm
高精度分析近高斯光束质量
重建2D和伪3D空间功率分布
单个独立测量头
测量连续光束或≥10 Hz的脉冲光束
扫描速率从2到20 Hz
用户可校准的功率读数(请看用户手册了解校准步骤)
动态范围78 dB
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